판매용 중고 BRUKER / VEECO Dimension Icon #293664080

BRUKER / VEECO Dimension Icon
ID: 293664080
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Icon은 다양한 연구 및 산업 응용 프로그램에서 지형 이미징에 사용되는 다재다능하고 고도의 스캐닝 프로브 현미경 (SPM) 입니다. 이 장비는 사용자에게 정밀 측정, 고속 스캔, 고해상도 이미징 등을 제공하는 혁신적인 디자인을 제공합니다. VEECO Dimension Icon (VEECO Dimension Icon) 은 XYZ 조작을 수행하기 위해 하이브리드 단계를 활용하여 손상 위험 없이 더 높은 위치와 더 큰 정확도에 도달 할 수있는 3 축 기계 설계를 특징으로합니다. 이 시스템에는 또한 8 채널 (8 Channel) 프로브 (Probe) 선택 장치가 제공되어 표면 지형에 대한 요구 사항에 따라 프로브를 선택할 수 있습니다. BRUKER Dimension Icon은 표면 지형뿐만 아니라 능선 너비, 스텝 높이, 그레인 크기, 형태와 같은 다른 기능을 측정 할 수 있습니다. 또한, 이 기계에는 nano-stylus 캔틸레버 (cantilever) 팁이 포함되어 있어 더 큰 표면 지형 측정 해상도를 제공합니다. 이 도구에는 멀티 픽스 몰입 광학 자산, 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 및 고온 산화 모드가 장착되어 있으며, 모두 사용자에게 고해상도 스캐닝 결과를 제공합니다. 또한, Dimension 아이콘에는 강력하고 직관적인 소프트웨어 인터페이스가 있어 사용자가 스캐닝 (scanning) 매개변수를 완벽하게 제어할 수 있습니다. 이 제품은 이미징 및 스펙트럼 데이터 처리, 데이터 조작, 데이터 프레젠테이션을 모두 위한 강력한 통계 분석 툴입니다. 또한 사용자는 데이터를 실시간으로 인식하고 분석할 수 있는 기능을 제공합니다 (영문). 마지막으로, 이 모델은 견고하게 설계되었으며 전문성이 뛰어납니다. 내구성이 뛰어난 구조는 극단적 인 상황에서도 우수한 성능을 보장합니다. 또한, 이 장비는 호환성이 높으며, 다른 SPM 시스템 및 다른 공급업체의 시스템과 함께 사용할 수 있습니다. 전반적으로 BRUKER/VEECO Dimension Icon은 다양한 디자인의 고급 스캐닝 프로브 현미경입니다. 멀티 픽스 몰입 광학 (multi-fix immersion optics), 스캐닝 터널링 현미경, 고온 산화 모드 등의 혁신적인 기능은 사용자에게 가장 정확한 표면 지형 측정을 제공합니다. 또한, 직관적인 소프트웨어 인터페이스 (software interface) 와 견고한 디자인 (design) 을 통해 다양한 연구 및 산업 애플리케이션에 적합합니다.
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