판매용 중고 BRUKER Dimension XR #293820697

BRUKER Dimension XR은 나노 스케일 이미징 및 분석을위한 최첨단 기능을 제공하는 고급 원자력 현미경 (AFM) 입니다. 이 고성능 기기는 오늘날의 리서치 및 업계 어플리케이션 (Research and Industry Application) 의 요구에 부응하도록 설계되었으며, 광범위한 이미징 및 측정 작업에 탁월한 해상도, 민감도, 유연성을 제공합니다. Dimension XR에는 시중의 다른 AFM 시스템과 차별화되는 다양한 최첨단 (state-of-the-art) 기능이 장착되어 있습니다. 이 현미경의 핵심 특성 중 하나는 고해상도 이미징 기능으로, 표면 지형을 나노미터 (nanometer) 급 정밀도로 시각화할 수 있습니다. XR 모델은 X 방향과 Y 방향 모두에서 최대 100 마이크로미터의 스캔 범위를 자랑하며, 넓은 영역에 걸쳐 자세한 이미지를 캡처할 수 있습니다. BRUKER Dimension XR은 뛰어난 이미징 기능 외에도, 고급 스캐닝 모드를 제공하여 사용자가 뛰어난 감도로 재료 속성을 조사할 수 있도록 합니다. 기기에는 컨택트 모드 (Contact Mode), 탭핑 모드 (Tapping Mode) 및 비컨택트 모드 (Non-Contact Mode) 를 포함한 여러 스캐닝 모드가 장착되어 있으며, 각 모드는 다양한 샘플 유형 및 측정 작업에 대한 고유한 이점을 제공합니다. XR 모델은 또한 PeakForce Tapping (PeakForce Tapping) 과 같은 고급 스캐닝 기술을 지원하여 어려운 샘플에 대한 향상된 이미지 해상도 및 감도를 제공합니다. Dimension XR의 뛰어난 기능 중 하나는 통합 광학 현미경으로, 스캔 중 AFM 팁 및 샘플의 라이브 비디오 이미지를 제공합니다. 이 기능을 사용하면 AFM 팁을 정확하게 정렬하고 스캔 영역을 시각적으로 확인할 수 있으므로 고품질 (High-Quality) 이미징 결과를 쉽게 얻을 수 있습니다. 광학 현미경 (optical microscope) 은 샘플 표면에 대한 관심 영역을 빠르게 찾아서 설정 프로세스를 단순화하고 데이터 획득을 간소화하는 데 사용될 수 있습니다. BRUKER Dimension XR (BRUKER Dimension XR) 은 다양한 기능 및 사용 편의성을 극대화할 수 있도록 설계되었으며, 사용자 친화적인 인터페이스를 통해 스캔 매개변수와 이미징 설정을 직관적으로 제어할 수 있습니다. 이 시스템은 반도체 재료, 폴리머 (polymer), 생물학적 샘플 (biological samples) 등을 포함한 다양한 샘플 유형과 호환되므로 다양한 연구 및 산업 응용 분야에 적합합니다. 또한 XR 모델은 자동 스캐닝 (Scanning) 기능을 제공하여 수작업 없이 데이터를 효율적으로 수집하고 분석할 수 있습니다. 이미지 처리 및 측정 기능 외에도, Dimension XR에는 AFM 이미지의 정량적 분석을 용이하게 하는 고급 데이터 분석 툴이 장착되어 있습니다. 이 시스템은 이미지 처리, 서피스 황삭 분석 (surface roughness analysis) 및 기계적 특성 매핑을 위한 소프트웨어 패키지를 갖추고 있어 AFM 데이터에서 유용한 정보를 빠르고 쉽게 추출할 수 있습니다. 고성능 이미징, 고급 스캐닝 모드, 직관적인 사용자 인터페이스의 조합으로, BRUKER Dimension XR은 nanoscale 연구 및 개발을 위한 강력한 도구입니다.