판매용 중고 ATOMIC FORCE MICROSCOPE Autoprobe M5 #293830807

ATOMIC FORCE MICROSCOPE (AFM) ATOMIC FORCE MICROSCOPE Autoprobe M5는 나노 스케일 수준에서 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 최첨단 현미경입니다. AFM은 나노 기술, 재료 과학, 생물학 분야에서 중요한 도구이며, 연구자들은 원자 수준에서 표면 지형, 기계적 특성, 상호 작용을 연구 할 수 있습니다. AFM Autoprobe M5의 주요 기능 중 하나는 정확하고 정확한 원자 해상도 이미징 (atomic resolution imaging) 을 달성하는 기능입니다. 현미경은 일반적으로 실리콘 (silicon) 또는 질화 실리콘 (silicon nitride) 으로 만들어진 날카로운 프로브 팁을 사용하여 접촉하지 않는 모드에서 샘플의 표면을 스캔합니다. 프로브 팁 (Probe Tip) 이 샘플 표면에 접근함에 따라, 표면의 팁과 원자 사이의 힘으로 인해 팁이 구부러져 현미경이 원자 힘을 측정하고 표면 지형의 고해상도 이미지 (High-resolution Image) 를 생성합니다. AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE Autoprobe M5 (AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE M5) 에는 Contact Mode, Tapping Mode 및 Dynamic Force Microscopy를 포함한 고급 이미징 모드가 장착되어 특정 응용 프로그램에 가장 적합한 모드를 선택할 수 있습니다. 접촉 모드 (contact mode) 에서, 프로브 팁은 샘플 서피스와 물리적으로 접촉하여 표면 거칠기와 기계적 특성에 대한 정보를 제공합니다. 간헐적 접촉 모드 (intermittent contact mode) 라고도하는 탭핑 (tapping) 모드는 섬세한 샘플을 부드럽게 이미징하고 팁 샘플 상호 작용력을 줄입니다. 동적 힘 현미경 (Dynamic force microscopy) 은 프로브 팁과 샘플 서피스 사이의 상호 작용력을 측정하여 재료 특성과 서피스 상호 작용에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. 또한 AFM Autoprobe M5 (AFM Autoprobe M5) 는 샘플의 자동 스캐닝 및 정확한 위치를 허용하는 동력 단계를 특징으로합니다. 이 기능은 대용량 스캐닝 (대용량 스캐닝) 및 고성능 이미징 어플리케이션에 특히 유용하며, 여러 샘플을 빠르고 정확하게 분석해야 합니다. 현미경은 프로브 (Probe) 팁의 편향을 감지하기 위한 강력한 레이저 시스템과 고공간 (High Spatial) 해상도로 이미지를 캡처하기 위한 고속 데이터 획득 시스템을 갖추고 있다. AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE Autoprobe M5 (AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE Autoprobe M5) 에는 데이터 분석 및 이미지 처리를위한 고급 소프트웨어도 포함되어 있으며, 연구원은 이미지에서 정량 정보를 추출하고 표면 특성에 대한 자세한 보고서를 생성 할 수 있습니다. AFM Autoprobe M5는 나노 재료 연구, 생물학적 샘플 특성화, 표면 수정 조사, 박막 및 코팅 분석 등 다양한 응용 분야에 사용할 수있는 다목적 도구입니다. 현미경은 기본 연구, 제품 개발, 품질 관리를위한 연구 실험실, 학술 기관, 산업 환경에 널리 사용됩니다. 결론적으로 AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE Autoprobe M5는 다양한 응용 프로그램에 대한 고해상도 이미징, 정확한 측정 및 고급 이미징 모드를 제공하는 최첨단 현미경입니다. 다재다능성, 정확성, 자동화 능력은 연구자들이 나노스케일 (Nanoscale) 세계를 탐험하고 과학기술의 경계를 넓히는 데 필수적인 도구라고 할 수 있다.