판매용 중고 ZYGO ZMI 7702 #9363714

ZYGO ZMI 7702는 반도체 장치의 결함을 정확하게 검사하도록 설계된 Mask & Wafer Inspection 장비입니다. 이 시스템은 자동 분석기 (Automated Analyzer) 와 동반 현미경을 기반으로 하여 뛰어난 화질 및 검사 기능을 제공합니다. 이 장치는 반도체 기술의 웨이퍼 (Wafer) 제작 프로세스의 결함 관리 및 라우팅의 우수성을 달성하도록 설계되었습니다. ZMI 7702 는 사용자 정의 자동 분석기 (Automated Analyzer) 를 활용하여 현미경 단계를 정확하게 초점을 맞추고 이동시켜 고해상도, 반복 가능한 이미지를 제공합니다. 이 기계는 고밀도 회로, 메모리 어레이, 다중 계층 배선 등, 서브미크론 기능을 정확하고 효율적으로 측정할 수 있습니다. 또한 결함 크기 측정, 중요한 DC 특성 검색, 트랜지스터 결함 감지 등을 허용합니다. 이 도구에는 고급 결함 감지를 위해 이미지 및 패턴 인식 기능을 활용하는 DIAM (Digital Image Analysis Module) 이 있습니다. ZYGO ZMI 7702는 최첨단 현미경을 사용하여 배율을 5X에서 2000X로 생성 할 수 있습니다. 이 고해상도 현미경은 밝은 필드 (field) 와 어두운 필드 (dark field) 조명을 모두 제공하여 결함을 포함한 복잡한 반도체 패턴을 더 잘 시각화 할 수 있습니다. 현미경은 고품질 이미지와 비디오를 위해 전체 CCD 컬러 디지털 카메라를 사용합니다. 또한, ZMI 7702는 샘플 보정 기능이 있는 자동 정렬 에셋 (automated alignment asset) 을 사용하여 위치를 지정하기 전에 샘플을 정확하게 정렬합니다. 이 모델은 검사 과정에서 더 큰 정확성과 반복성을 제공합니다. ZYGO ZMI 7702는 또한 사용하기 쉬운 사용자 인터페이스를 제공하여 효율적이고 정확한 검사를 용이하게 합니다. 사용자 친화적인 nVision 소프트웨어는 검사 워크플로를 간소화하고 실시간 데이터를 제공하기 위해 설계되었습니다. 또한 통합된 Search 소프트웨어는 빠르고 쉽게 결함이 발생할 수 있는 위치에 포함되어 있습니다. 요약하자면, ZMI 7702는 다양한 어플리케이션에서 사용할 수 있는 고급 이미징 및 결함 감지 기능을 갖춘 종합적인 고성능 마스크 & 웨이퍼 검사 (Mask & Wafer Inspection) 장비입니다. 자동 분석기, 현미경 및 DIAM (Digital Image Analysis Module) 은 뛰어난 이미지 품질과 정확성을 제공하는 반면, 사용자 친화적 인 인터페이스 및 소프트웨어는 검사 프로세스를 최적화합니다.