판매용 중고 ZYGO F/0.75 Lambda/40 #9383775

ZYGO F/0.75 Lambda/40 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 반도체 장치 제조에 사용되는 포토 마스크 및 웨이퍼의 결함을 감지하도록 설계된 고정밀 광학 시스템입니다. 이 장치는 0.75 미크론 해상도까지 서피스를 검사할 수 있으며, 자동 초점 추적 (Automatic Focus Tracking) 및 풀 필드 이미지 스티칭 (Full-Field Image Stitching) 과 같은 고급 기능을 제공합니다. 기계의 핵심에는 40 나노 미터 (40 나노 미터) 의 파장을 가진 빛을 생성하는 대형 레이저 기반 조명원이 있습니다. 이를 통해 포토 마스크 (photomask) 또는 웨이퍼 (wafer) 의 가장 작은 기능조차도 생산 프로세스의 다음 단계로 전달되기 전에 검사할 수 있습니다. 조명 소스에는 색상, 밝기, 명암비 등 다양한 형식의 결함을 감지 할 수있는 한 쌍의 고급 (advanced) 카메라가 함께 제공됩니다. "카메라 '는 움직 일 수 있는" 플랫폼' 에 장착 되어 "포토마스크 '나" 웨이퍼' 의 어느 부면 에서든지 쉽게 "카메라 '를 배치 할 수 있다. 이 도구에는 두 카메라의 여러 이미지를 결합하여 검사할 수 있는 "통합 비전 (Integrated Vision)" 프로세서가 포함되어 있습니다. 이 프로세서는 이미지의 결함을 감지하고 나중에 검토할 데이터를 저장하는 데에도 사용됩니다. (영문). ZYGO F/0.75 Lambda/40 마스크 및 웨이퍼 검사 에셋에는 다양한 기능이 장착되어 있어 검사 프로세스가 빠르고 효율적입니다. 한 번의 스캔에서 더 큰 웨이퍼 (wafer) 를 검사 할 수있는 넓은 작업 구역이 있습니다. 자동 초점 추적 (Automatic Focus Tracking) 기능은 검사 프로세스가 가능한 한 정확하고 정확한지 확인합니다. 또한 이 모델에는 처리 매개변수 (Processing Parameter) 를 사용자정의하고 일관성 검사 (Consistency Check) 를 설정하여 결함이 간과되지 않도록 할 수 있는 소프트웨어가 함께 제공됩니다. ZYGO F/0.75 Lambda/40 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 결함 분석 (Defect Analysis) 을 위한 안정적인 결과를 제공하므로 제품이 최고의 품질 표준을 충족할 수 있습니다. 이 시스템은 대용량 (high-volume) 과 저용량 (low-volume) 을 모두 실행하는 데 적합하므로 반도체 산업에 이상적인 도구입니다.