판매용 중고 YASUNAGA LI-2000 #9103680

YASUNAGA LI-2000 Mask & Wafer Inspection 장비는 반도체 마스크 및 웨이퍼에 대한 미세한 기능을 정확하게 검사하고 측정하기 위해 설계되었습니다. 다양한 지오메트리 (geometry) 에 대해 빠르고 안정적인 검사 및 측정 기능을 제공하며, 빠른 속도와 반복 (repeatability) 방식으로 작동할 수 있습니다. 이 시스템은 고속 검사 장치 (High-Speed Inspection Unit), 강력한 이미지 처리 장치 (Image Processing Machine) 및 강력한 소프트웨어 제품군의 세 가지 주요 구성 요소로 구성됩니다. 고속 검사 도구 (High-Speed Inspection Tool) 는 고유한 좁은 시야의 이미징 (Imaging) 자산을 활용하여 빠른 속도로 작은 기능을 검사합니다. 이를 통해 모델은 검사 중에 필요한 이미지 데이터를 신속하게 얻을 수 있습니다. 이미지 처리 장비 (Image Processing Equipment) 는 피쳐의 형상과 형태를 분석하는 등 획득한 이미지 데이터를 확률적으로 또는 결정적으로 처리하는 데 사용됩니다. 이 시스템에 포함된 강력한 소프트웨어 제품군은 이미지 데이터의 데이터 (data) 와 조작 (manipulation) 을 관리하는 데 사용되며, 반도체 마스크 (mask) 와 웨이퍼 (wafer) 의 고급 기능을 검사하고 측정하는 포괄적인 솔루션을 제공합니다. LI-2000은 결함 검사, 패턴 분석, 사진 마스킹, 스캔 측정, 기타 유형의 검사 등 다양한 검사 응용 프로그램에 사용하도록 설계되었습니다. 이 장치는 다양한 광 렌즈 (optical lense) 를 지원하여 다양한 이미징 응용 프로그램에 사용할 수 있습니다. 또한 CT (computer tomography) 시스템 및 X-ray 시스템을 포함한 고급 비파괴 테스트 시스템을 지원할 수 있습니다. YASUNAGA LI-2000에는 검사 작업을 위해 사용자 정의 레시피 설정을 저장할 수있는 내장 검사 데이터베이스가 있습니다. 이 기계에는 많은 측정 템플릿 라이브러리와 강력한 비주얼 프로그래밍 언어가 있습니다. 측정 배열, 측정 선택 (selection of measurements) 및 알고리즘 매개변수 (algorithm parameters) 는 개별 응용 프로그램 요구 사항에 맞게 사용자정의할 수 있습니다. LI-2000은 매우 안정적이며 정확성과 반복성을 제공하도록 설계되었습니다. 이 툴은 업계 최고의 지원 패키지 (support package) 를 통해 지원되며, 배송 전에 완벽하게 테스트됩니다. 자산은 다양한 예산과 고객의 요구에 맞게 다양한 구성과 패키지 (package) 로 제공됩니다.