판매용 중고 YASUNAGA C 200 #133035

YASUNAGA C 200은 완전 자동화 된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 첨단 컴퓨터 비전 (Computer Vision) 기술을 활용하여 결함이 있음을 감지하고 쉽게 평가할 수 있도록 처리합니다. 이 시스템은 실리콘 웨이퍼 (silicon wafer) 생산 프로세스에 사용하도록 설계되었으며, 일반적인 프로세스 내 품질 제어 및 장애 분석에 모두 사용될 수 있습니다. 이 장치는 초 스펙트럼 이미징 머신 (hyperspectral imaging machine) 을 사용하여 다른 검사 메커니즘을 사용하여 볼 수없는 미묘한 결함을 감지합니다. 매우 민감한 감지 (detection) 기능을 통해 광범위한 결함 유형을 빠르고 정확하게 파악할 수 있습니다. 이 도구는 또한 포괄적인 검사 기능 및 분석 도구 (analysis tools) 를 제공하여 포괄적인 결함 분석을 가능하게 합니다. 자산은 여러 최첨단 기술을 결합하여 종합적인 모델을 만드는 방식으로 작동합니다. 첫째, C 200은 극성 (polarized) 및 무극성 (non-polarized) 조명을 포함한 최첨단 광학을 사용하여 결함 탐지의 정확성과 범위를 극대화합니다. 또한 고급 알고리즘 소프트웨어를 사용하여 획득한 이미지를 해석합니다. 이것은 그들의 정확성과 완전성을 보장하는 데 도움이됩니다. 마지막으로, 장비는 이미지 등록 기법 (Image Registration Technique) 을 사용하여 주변 환경의 간섭없이 임의의 방향에서 이미지를 정확하게 감지합니다. YASUNAGA C 200은 탐지 기능 외에도 상세한 결함 분석을 수행 할 수 있습니다. 일반적인 결함과 복잡한 결함을 모두 감지하여 결함의 크기 (size), 유형 (type), 위치 (location) 및 기타 특성에 대한 자세한 정보를 제공합니다. 이는 잠재적 인 프로세스 문제를 식별 할 때 귀중한 통찰력을 제공 할 수 있습니다. 또한, 이 시스템은 검출된 결함의 주파수 (frequency) 와 분포 (distribution) 를 분석하는 데 사용할 수있는 일련의 통계 분석 도구를 갖추고 있습니다. C 200 은 인체 공학적, 매우 직관적인 단위로, 생산 프로세스 내에서 통합하고 사용하기 쉽습니다. 이동식 (portable) 및 고정 (stationary) 양식으로 제공되므로 현장 및 원격지에서 모두 사용할 수 있습니다. 또한, 최소한의 노력으로 유지 관리되며, 최소한의 운영자 교육이 필요합니다. YASUNAGA C 200 (YASUNAGA C 200) 은 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 머신으로, 조직의 최고 품질을 보장하고 생산 프로세스의 결함을 줄일 수 있습니다. 이 제품은 매우 민감하고 신뢰할 수 있는 결함 감지 툴을 제공하여 품질 보증 (Quality Assurance) 및 생산 최적화 (Production Optimization) 를 위한 귀중한 툴입니다.