판매용 중고 WITHLIGHT OPI-110 #9281914

WITHLIGHT OPI-110 Mask & Wafer Inspection Equipment는 결함, 결함 및 기타 불일치에 대한 다양한 반도체 재료를 검사하기위한 완전한 솔루션입니다. 이 시스템은 넓은 시야를 지닌 고해상도 이미징 (High-resolution Imaging) 솔루션을 제공하여 다양한 자료를 정확하고 효율적으로 검사할 수 있습니다. OPI-110 은 독특한 이미징 현미경으로, 밝은 분야와 어두운 영역 이미징을 모두 지원합니다. 이 쌍안경 현미경 광학 경로 간섭 장치 (Optical Path Interferometry unit) 는 0.5m만큼 작은 기능을 관찰하도록 쉽게 조정할 수 있으며, 이를 통해 제조업체는 재료의 결함, 오염 및 기타 오염 물질을 효과적으로 감지 할 수 있습니다. 정밀도 (Precision Optic) 는 사용자가 초점 이동만으로도 빠르고 쉽게 탐색할 수 있는 고해상도 (High-resolution) 이미지를 제공합니다. WITHLIGHT OPI-110에는 자동 웨이퍼 처리 장치 (Automated Wafer Handling Machine) 가 있으며 검사 프로세스를 능률화하고 속도를 높이도록 설계되었습니다. 경량 설계를 통해 공구를 쉽게 설치, 재배치할 수 있으며, 부드럽고 정확한 샘플 로딩이 가능합니다. 자산에는 고급 소프트웨어/하드웨어 (Software/Hardware) 통합이 장착되어 있어 모델의 매개변수를 제어하고 이미지를 실시간으로 시각화할 수 있습니다. 광학 검사 외에도 OPI-110은 레이저 빔 유도 전류 (LBIC) 이미징에도 사용될 수 있습니다. 이 기술을 통해 사용자는 재료 행동의 변형을 최대 6m까지 감지 할 수 있습니다. LBIC 기술은 또한 샘플에서 불균일 한 영역을 감지하여 사용자에게 상세한 실시간 정보 (real-time information) 를 제공합니다. WITHLIGHT OPI-110 (WITHLIGHT OPI-110) 은 웨이퍼와 마스크를 모두 검사하는 안정적이고 효율적인 수단을 원하는 모든 반도체 제조업체에 이상적인 솔루션입니다. OPI-110 은 다양한 정교한 이미징 기능과 자동 샘플 처리 (automated sample handling) 장비를 활용하여 제조업체에게 재료의 결함, 오염, 기타 불일치를 정확하고 신속하게 감지하여 제품의 품질을 향상시킵니다.