판매용 중고 WIT IP-3000L-AO #293640851

WIT IP-3000L-AO는 반자동 및 자동 프로세스로 구성된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 마스크 (Mask), 웨이퍼 (Wafer), 레티클 (Reticle) 의 표면 및 레이어 깊이에 위치한 구조, 표면 및 기타 기능을 검사하도록 최적화된 다양한 이미징 및 검사 기술로 제작되었습니다. IP-3000L-AO 에는 최대 25 나노미터 해상도로 표면을 확대할 수 있는 고급 광학 영상 장치 (Optical Imaging Unit) 가 장착되어 있습니다. 이를 통해 고품질 이미징과 마스크 및 웨이퍼 표면을 자세히 검사할 수 있습니다. 이 기계는 또한 표면 노출 및 평가를위한 고출력 레이저 (High-Power Laser) 를 사용하며, 이는 나노 미터 수준에서 박막 레이어, 상승 범프, 구덩이, 범프 및 입자와 같은 기능을 검사하는 데 사용됩니다. WIT IP-3000L-AO (Integrated Metrology Tool) 에는 구조 및 표면의 정확도와 정밀도를 측정하기 위한 고해상도 단계 및 동작 에셋이 포함되어 있습니다. 이 모델을 사용하면 나노 미터 규모의 구조와 표면을 정확하고 반복 할 수 있습니다. 또한, 통합 도량형 장비를 사용하면 시스템에서 검사하는 동안 즉시 측정할 수 있습니다. 반복 가능한 정밀도를 높이기 위해, 이 장치에는 고급 플래시 검사 머신 (Flash Inspection Machine) 과 통합 품질 제어 프로세스 (Integrated Quality Control Process) 가 장착되어 있습니다. 여기에는 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 에 적합하지 않은 것을 감지하고 측정하는 알고리즘 및 소프트웨어 프로그램 도구가 포함됩니다. 이 기능을 통해 사용자는 즉석 검사를 수행하고 통과/실패 기준을 결정할 수 있습니다. 자산은 데이터베이스 (database) 와 통합되어 모든 검사 데이터를 빠르고 쉽게 액세스할 수 있습니다. IP-3000L-AO 는 안전성과 신뢰성을 제공하기 위해 자가 진단 모델로 작동하여 일관되고 반복 가능한 정확성을 보장합니다. 또한, 이 장비에는 쉽고 직관적인 작동이 가능한 사용자 친화적 제어판이 있습니다. 가벼운 화살표, 경고 메시지, 센서 알림 (sensor notification) 과 같은 안전 기능도 시스템에서 제공되며, 이 기능을 사용하면 운영자의 위험 요소를 방지할 수 있습니다. 결론적으로, WIT IP-3000L-AO는 높은 정확도와 반복성으로 나노미터 수준의 표면과 구조를 검사하는 효과적인 단위입니다. 마스크, 웨이퍼, 레티클을 빠르고 정확하게 검사하려는 사용자에게 적합한 선택입니다.