판매용 중고 TAYLOR HOBSON PGI 840 #9412072

TAYLOR HOBSON PGI 840 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 마스크 및 웨이퍼 검사를 위해 특별히 설계된 초정밀 검사 및 매핑 시스템입니다. 향상된 검사 기능은 우수한 해상도를 제공하며, 다른 장비에서는 얻을 수 없는 정밀도를 제공합니다. 또한, PGI 840은 오류를 신속하게 파악하고 완화하기 위해 업계 최고의 감지 기능을 제공합니다. 특화된 광학과 은하계 기반 다축 스캐닝의 조합은 측정 과정 전체에서 가장 높은 정밀도와 정확도를 보장합니다. 또한 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 는 고속 스캐닝, 신속한 데이터 캡처, 그리고 가장 작은 이상 (Anomalies) 까지 감지할 수 있는 정밀도를 제공합니다. 이 장치에는 retro-reflective (Schmidt-type) 및 incident light collection, high-water-contact probe, laser beam 및 기타 optics와 같은 애플리케이션별 요구 사항에 맞는 다양한 범위와 프로브가 포함됩니다. "센서 '는 독특 한 광학" 디자인' 을 사용 하여 작은 거리 를 스캔 하여 기판 지형 의 교묘 한 변화 를 탐지 하고 측정 한다. TAYLOR HOBSON PGI 840은 데이터 처리 및 분석을위한 최신 디지털 기술을 사용합니다. 이 기계는 이미지 프로세싱 (image processing) 과 디지털 신호 처리 (digital signal processing) 알고리즘을 결합하여 불균형, 깊이, 거칠기 등의 기능을 정확하게 감지할 수 있습니다. 또한, 공구는 광범위한 기판 매개변수를 측정하고 높은 정확도와 일관성 (Consistency) 으로 매핑하도록 설계 될 수 있습니다. PGI 840은 결함율을 줄이고 수익률을 개선하도록 설계되었습니다. 또한 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사에 필요한 탁월한 정확성과 더불어 빠른 데이터 처리 프로토콜 (fast data processing protocol) 및 사용자 정의 가능한 사용자 친화적 인터페이스 (user-friendly interface) 를 제공합니다. 강력한 검사 기능, 자동화된 운영 (automated operation), 종합적인 데이터 분석 기능을 통해 칩 제작, 회로판 테스트, 반도체 제조 등 다양한 어플리케이션에서 사용할 수 있습니다. TAYLOR HOBSON PGI 840은 마스크 및 웨이퍼 검사에 유용한 다재다능한 자산입니다. 우수한 해상도, 향상된 감지 기능, 고급 소프트웨어 등을 제공하여 빠른 스캔, 신속한 데이터 캡처, 적극적인 기판 매개변수 측정 (substrate parameter measure) 기능을 제공합니다. 이 모델에는 기판 지형의 미묘한 변화를 감지하고, 정확성과 일관성이 높은 다양한 매개변수를 측정하는 강력한 디지털 이미지 처리 (digital image processing) 알고리즘이 있습니다. 이 모든 구성 요소를 결합하면 마스크 (Mask) 및 웨이퍼 (Wafer) 검사에 적합한 신뢰할 수있는 장비가 생성됩니다.