판매용 중고 SONIX CSAM UHR 2001 #100833

SONIX CSAM UHR 2001은 고급 고성능 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 반도체 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 의 정확하고 정밀한 자동 결함 해상도 및 분석을 수행하여 복잡한 반도체 장치 생산에서 더 높은 수율을 창출하도록 설계되었습니다. CSAM UHR 2001은 다양한 크기, 모양, 형태, 위치의 다양한 결함을 감지 할 수있는 고해상도 광학 시스템을 사용합니다. 최종 사용자는 자동화된 결함 해결 (Defect Resolution) 및 분석 (Analysis) 기능을 통해 결함 및 잠재적 프로세스 문제를 신속하고 정확하게 파악할 수 있으며, 시간과 추측이 필요 없습니다. 이것은 SONIX CSAM UHR 2001을 반도체 웨이퍼와 마스크의 엄격한 검사를위한 이상적인 단위로 만듭니다. CSAM UHR 2001의 중심에는 고해상도 광학 머신이 있으며, 다중 파장 조명 소스, 광학 릴레이 및 초점 요소, 이미지 캡처 시스템, 프로그래밍 가능한 결함 분석 프로세서 등 여러 구성 요소로 구성되어 있습니다. 이 도구는 다양한 정교한 광학 장치, 전하 결합 장치 (charge-coupled devices) 및 이미지 처리 알고리즘을 사용하여 이미지 캡처 프로세스의 다른 단계에서 산란 및 반사율 속성의 미묘한 변화를 감지합니다. 그런 다음, 이 데이터를 처리, 표시하여 결함을 자세히 확인합니다. 이 자산은 사용자 친화적으로 설계되어 운영자 교육이 필요 없습니다. 직관적인 터치 스크린 인터페이스 (touch-screen interface) 를 통해 운영자는 검사 매개변수를 쉽게 조정하고, 출력 디스플레이를 사용자 정의하고, 이미지 캡처 모델을 제어할 수 있습니다. 또한 밝은 필드와 어두운 필드, 스펙트럼 위상 배열, 측면 보기 이미징, 3D 이미징 등 다양한 이미징 모드를 제공합니다. SONIX CSAM UHR 2001은 마스크 및 웨이퍼 결함의 검사 및 분석에 사용할 수있는 가장 고급 시스템 중 하나입니다. 고해상도 광학 장비는 사용자 친화적 (user-friendly) 컨트롤과 결합하여 반도체 제조업체를 위한 이상적인 검사 솔루션입니다. 효율적이고 정확한 분석 기능을 통해 운영 비용, 시간, 복잡성을 대폭 줄일 수 있어 반도체 마스크, 웨이퍼 (wafer) 를 철저히 검사하는 완벽한 시스템입니다.