판매용 중고 SLD FGN-20 #9268535

SLD FGN-20 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 마스크 및 웨이퍼를 검사하도록 설계된 자동 시스템입니다. 고성능 옵틱 (optic), 고급 알고리즘 (advanced algorithms), 최첨단 비전 처리 기능을 갖춘 이 장치는 마스크와 웨이퍼를 빠르고 정확하게 검사할 수 있습니다. 이 기계는 내장형 5 메가 픽셀 디지털 카메라에 기록 된 마스크 (mask) 와 웨이퍼 (wafer) 의 상류 이미지를 찍어 시작합니다. 그런 다음, 마스크 (Mask) 와 웨이퍼 (Wafer) 의 결함 및 이상을 감지하기 위해 정교한 패턴 인식 알고리즘을 통해 이 이미지를 분석합니다. 결함 또는 이상 (anomaly) 을 감지하면 도구는 종합적인 결함 맵 내의 결함의 정확한 위치가 있는 통합 3D 디스플레이를 제공합니다. 에셋은 또한 이미지의 색상 필터 적용 (예: 이미지의 색상 필터) 이나 모니터의 신호 증가 (raising signal) 와 같은 확장된 이미지 처리 기능을 제공하여 결함 위치를 파악하는 데 도움이 됩니다. FGN-20은 스크래치, 피트, 스팟 등 마스크 및 웨이퍼에서 다양한 결함과 이상을 감지 할 수 있습니다. 또한 불량 (non-defects) 으로부터 잘못된 경보를 피하기 위해 색상 변화를 감지 할 수 있습니다. 또한, 사용자는 다양한 유형의 결함 및 이상을 감지하기 위해 장비의 민감도 (sensitivity) 를 조정할 수 있습니다. 통합 소프트웨어 패키지 (Integrated Software Package) 를 사용하면 검사 프로세스를 손쉽게 관리할 수 있고, 이를 통해 상세한 데이터에 액세스하고 검사 결과를 업로드할 수 있습니다. 이 데이터는 분석 (analysis) 및 이후 검사 및 프로덕션 프로세스의 개선에 사용될 수 있습니다. 또한, SLD FGN-20은 다른 광 검사 시스템과 쉽게 통합될 수 있으며, 이 과정에서 정확성과 신뢰성을 더욱 높일 수 있습니다. 전반적으로 FGN-20 Mask & Wafer Inspection System은 빠르고 효율적인 마스크 및 웨이퍼 검사 프로세스를 용이하게하도록 설계된 고급 자동 장치입니다. 효율적인 알고리즘과 정교한 이미지 처리 (image processing) 기능을 통해 다양한 유형의 결함 및 이상을 빠르고 정확하게 감지할 수 있습니다. 통합 소프트웨어 패키지는 검사 (Inspection) 프로세스를 손쉽게 관리하고 상세한 데이터를 액세스합니다. 또한, 이 기계는 다른 광학 검사 시스템 (Optical Inspection System) 과 쉽게 통합되어 운영/검사 프로세스의 정확성과 신뢰성을 더욱 높일 수 있습니다.