판매용 중고 SLD FGN-20 #9201063

SLD FGN-20 은 완전 자동 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사 장비로, 반도체 분야에 뛰어난 정확성과 신뢰성을 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 고급 광학 이미징 (optical imaging) 및 0.1 m - 0.5 m 범위의 결함을 감지 할 수있는 알고리즘을 사용합니다. SLD 유형 기술은 작은 접촉, 블라인드 비아 (blind vias) 및 저K 유전체와 같은 다양한 유형의 샘플을 검사 할 수 있습니다. FGN-20은 고해상도 CCD 카메라를 사용하며, 최소 결함 및 결합 된 의사 초점 렌즈 그룹의 기타 속성을 감지하기에 충분히 민감합니다. 강력한 이미지 처리 (image processing) 소프트웨어를 사용하여 수동으로 선택한 작업에서 각 결함을 검사하고 파악합니다. 이 장치의 HDR (High-Dynamic Range) 은 가장 어려운 결함조차도 인식 할 수 있으므로 광범위한 응용 프로그램에 적합합니다. 이 기계의 TAP 가상 검사 도구 (TAP Virtual Inspection Tools) 는 패턴화된 레이아웃의 레이어를 검사하도록 설계되었으며 고감도 레이저 패턴 검사를 제공합니다. 다양한 고급 이미지 분석 알고리즘을 사용합니다. 이 도구의 높은 정확성과 반복성 (repeatability) 은 검사된 각 샘플이 최고의 표준을 준수하도록 보장하며, 매번 신뢰할 수있는 결과를 제공합니다. 또한 SLD FGN-20 은 결함 목록, 3D 측정, 기타 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있는 보고서 등의 보고/데이터 관리 기능을 제공합니다. 또한 라이브 뷰 샘플 검사 및 FASR (Fully Automated SAM review) 을 통한 온라인 측정을 통해 모든 심각한 결함에 대한 자동 측정을 지원합니다. 이 자산은 사용자 친화적 (user friendly) 으로 설계되었으며, 측정 정확도에 영향을 미치지 않고 쉽게 작동하고 유지 관리할 수 있습니다. 또한 사용자 지정 요구 사항에 대한 특정 기능과 샘플/디바이스에 대한 전용/전용 영역이 포함됩니다. 고성능 데이터 분석 모델은 각 샘플에 대한 분석을 수행하고, 확인된 결함을 자동으로 경고합니다. 전반적으로 FGN-20은 마스크와 웨이퍼를 검사하기위한 안정적이고 정확한 장비입니다. 첨단 광학 이미징 (optical imaging) 기술, 이미지 처리 소프트웨어, 다양한 기능을 통해 모든 유형의 어플리케이션에 적합합니다. 운영/유지 보수가 용이하며, 다양한 보고서 및 데이터 관리 기능을 제공합니다.