판매용 중고 SEMILAB WT-2000PV #9181932

ID: 9181932
빈티지: 2008
Measurement system 2008 vintage.
SEMILAB WT-2000PV는 최고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 최대 512 x 512 픽셀의 스캔 면적과 최대 8 cm2/sec의 스캔 속도로 최대 32 "x 32" 크기의 photomask를 검사하는 데 적합합니다. 최신 반도체 (Semiconductor) 제작 및 칩 (Chip) 패키지 애플리케이션의 하이엔드 요구 사항을 충족하도록 설계되었으며, 이를 통해 사용자는 가능한 빨리 모든 장애를 파악하고 진단할 수 있습니다. SEMILAB WT 2000 PV에는 가장 정확한 시각 검사를 위해 몇 가지 고급 기술 기능이 있습니다. 빠른 DSP 기반 컨트롤러는 주파수 변조 및 진폭 변조 스캔을 모두 제공합니다. 독점적 인 온보드 PROBE 소프트웨어 알고리즘, 데이터 획득 장치, 직관적이고 친숙한 그래픽 인터페이스를 갖춘 대형 LCD 디스플레이가 특징입니다. 이 기계에는 또한 마스크 표면의 균일 한 조명을위한 이중 레이저 빔 도구 (dual laser beam tool) 가 있습니다. 이 자산에는 ADR (Automated Defect Recognition) 기능이 포함되어 있어 사용자는 운영 결함을 빠르고 정확하게 감지하고 해결할 수 있습니다. ADR 은 전체 마스크 또는 웨이퍼 (wafer) 를 스캔하고 높은 정확도로 빠른 속도로 패턴 및 기타 잠재적 불규칙성을 식별합니다. 또한 운영 프로세스 장애를 파악하고 위치를 정확히 파악하는 데 사용할 수 있습니다. WT-2000PV에는 고품질 CCD 기반 검출기 어레이도 포함되어 있습니다. 이렇게 하면 "마스크 '나" 웨이퍼' 표면 의 각 점 에서 반사 된 빛 의 "에너지 '양 을 정확 하게 측정 할 수 있다. 이 특징 은, "마스크 '의 결함 이나 인간 의 눈 으로 탐지 할 수 없는, 금, 은, 구리 와 같은 물질 을 식별 하기 위해, 어떤 결함 도 검사 하는 데 좋다. 또한, WT 2000 PV는 반도체 제작 및 칩 패키징 애플리케이션의 모든 최신 데이터 출력 및 통신 요구를 통합합니다. 이 모델은 이더넷, USB, RS-232 등 다양한 업계 표준 프로토콜과 호환됩니다. 이를 통해 사용자는 SEMILAB WT-2000PV 에서 다른 위치 또는 디바이스로 데이터를 쉽게 공유, 저장할 수 있습니다. 간단히 말해, SEMILAB WT 2000 PV는 반도체 제작 및 칩 포장 응용 분야에 적합한 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 다양한 고급 기능 (advanced features) 을 통해 사용자가 신속하고 정확하게 결함을 감지할 수 있으며, 통신 기능을 통해 데이터 전송 및 스토리지를 효율적으로 사용할 수 있습니다.
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