판매용 중고 SEMILAB / SDI WT-2000PVN #9227867

SEMILAB/SDI WT-2000PVN Mask & Wafer Inspection 장비는 광학 및 치수 도량형 기술을 사용하여 입자 오염, 외국 물질, 뒤틀림, 긁힘, 구덩이 및 일반적인 표면 조건을 포함한 다양한 결함을 감지하는 다중 센서 검사 시스템입니다. 이 장치는 특히 웨이퍼 레벨 또는 다이 레벨 칩의 분석과 MEMS, LCD, 3D 패키지와 같은 광전자 장치를 위해 설계되었습니다. SDI WT-2000PVN은 고해상도 광학 센서 (Optical Sensor) 와 정확한 차원 측정 덕분에 높은 정확도로 넓은 웨이퍼 또는 칩 영역을 신속하게 검사할 수 있습니다. 이 기계는 터치스크린 (touchscreen) 컨트롤을 쉽게 사용할 수 있는 인체 공학적 (ergonomic) 설계를 통해 각 응용 프로그램의 올바른 테스트 매개변수를 쉽게 선택할 수 있습니다. 고도로 통합된 도구는 테스트 환경을 샘플링 및 제어하기 위한 다양한 자동 (automated) 메커니즘을 갖추고 있어 일관되게 높은 정확도와 신뢰성을 보장합니다. 또한, 자동 이미지 색상화 (automated image colorization) 프로세스를 통해 이미지의 전체 대비를 더욱 향상시켜 사용자가 결함을 보다 쉽게 감지 할 수 있습니다. SEMILAB WT-2000 PVN 마스크 및 웨이퍼 검사 (PVN Mask & Wafer Inspection) 자산은 광범위한 어플리케이션에 대한 대량의 칩 및 광전자 장치에 대한 안정적이고 효율적인 분석을 제공합니다. 이 모델은 높은 정확도, 반복 가능한 결과, 사용 편의성을 제공하여 칩 제조업체, 마스크 메이커 및 기타 전자 제품 어플리케이션에 이상적인 솔루션입니다.