판매용 중고 SEMILAB / SDI WT-2000PVN #293652638

SEMILAB/SDI WT-2000PVN은 프로덕션 설정에서 웨이퍼 처리를 위해 완전히 자동화 된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 고해상도 광학 이미징 및 디지털 이미징 기술을 결합하여 GaAs, SiC, InGaAs, polysilicon 등 다양한 기판의 결함을 정확하게 측정, 검사, 감지합니다. 사용자가 시스템을 기판 (Substrate) 유형과 관심 있는 결함 (Defects) 또는 기능 (Features of Interest) 으로 구성합니다. 이 단위는 최대 15 미크론 크기의 입자와 입자, 하위 미크론 입자 및 패턴 인식 (pattern recognition) 을 감지하여 불규칙한 패턴을 식별 할 수 있습니다. 이미지는 실시간 또는 분할 화면 비교 모드에서 관찰할 수 있습니다. 이 기계에는 파노라마 (Panoramic) 이미지와 고해상도 이미지를 모두 스캔할 수 있는 고속 웨이퍼 스캐너가 장착되어 있습니다. 스캔 속도를 조정하여 최대 120mm/sec의 스캔 속도 (최대 해상도: 0.125 미크론) 를 달성 할 수 있습니다. SDI WT-2000PVN 도구는 또한 화상 처리 과정에서 중단되지 않고 심지어 액체의 흐름을 보장하는 유체 제어 장치 (fluid control unit) 를 갖추고 있습니다. 백그라운드 (background) 와 웨이퍼 (wafer) 사이의 일관된 대비를 유지하는 데 유체가 중요하므로 정확하고 신뢰할 수 있습니다. 에셋은 또한 자동 웨이퍼 로드 (wafer loading) 및 언로드 모델 (unloading model) 을 갖추고 있어 보다 빠르고 효율적으로 생산할 수 있습니다. 자동 웨이퍼 처리 장비는 크기가 다른 여러 웨이퍼를 쉽게 관리할 수 있습니다. 이 시스템은 직관적이고 사용자에게 친숙한 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 를 제공합니다. 사용자는 복잡한 프로그래밍 없이 매개변수를 구성하고, 분석할 이미지를 지정할 수 있습니다. 이 장치는 또한 다른 제조 시스템과의 원격 모니터링 및 데이터 교환을 허용합니다. SEMILAB WT-2000 PVN은 강력하고 신뢰할 수있는 마스크 및 웨이퍼 검사 기계입니다. 뛰어난 이미지 품질, 고속 스캔, 정확한 검사 및 유연한 구성을 제공합니다. 따라서 안정적이고, 사용하기 쉽고, 비용 효율적인 검사 방법을 필요로 하는 제조업체에 적합한 솔루션입니다.