판매용 중고 SEMILAB / SDI WT-1000B #9096331

ID: 9096331
빈티지: 2007
Measurement system Materials: Si, G Resistivity range: 0.1 to 1000ohmcm.
SEMILAB/SDI WT-1000B는 반도체 산업을 위해 설계된 혁신적인 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 빠르고 효과적인 웨이퍼 (wafer) 및 마스크 검사를 통해 무결성 (pattern integrity) 에 대한 포괄적인 뷰를 제공하여 비용 효율적인 수익률 개선 및 프로세스 최적화 결정을 용이하게 합니다. 프로덕션 라인 검사의 요구에 맞게 설계된 SDI WT-1000B (Automated System) 는 사용자가 결함을 정확하고 신속하게 감지할 수 있도록 다양한 기능을 제공하는 자동화된 시스템입니다. 광학 및 분광학 분석 (optical and spectroscopic analysis) 과 적응형 알고리즘 (adaptive algorithm) 을 결합한 고급 이미징 엔진을 사용하여 나노미터 수준에서 정확성과 정확성을 제공합니다. SEMILAB WT-1000B의 고급 검사 기능에는 컬러, 와이드 필드 CCD 카메라를 통한 이미지 획득, 이미지를 캡처하고 결함을 기록하는 것, 불균일 한 조명 보정을위한 Edge Detection, 다양한 반사율 및 Multi-Producer 자동 분석을위한 영역의 결합 된 데이터 분석을위한 다밀도 추출. 또한, 향상된 감지를 위한 Image Sharpening, 필름 두께 분석을위한 UV 광원 옵션, 결함 허위 통화 감소를위한 Crosstalk Isolation, 빠르고 정확한 데이터 수집을위한 Automatic Alignment, Real Time Process Mapping과 같은 다른 기능도 제공합니다. 프로세스 문제를 신속하게 식별할 수 있도록 도와줍니다. 해상도. 또한, 고급 이미징 인텔리전스 (Advanced Imaging Intelligence) 는 세분화된 프로세스 정보를 1 밀리미터의 웨이퍼 (Wafer) 및 마스크 표면 (Mask Surface) 까지 제공하는 데이터를 통해 생산 프로세스를 보다 쉽게 최적화할 수 있습니다. 게다가 WT-1000B 의 강력한 소프트웨어 (WT-1000B) 는 사용자가 시스템을 제어하고 검사 프로세스를 완벽하게 제어할 수 있는 다양한 기능을 제공합니다. 이러한 기능에는 사용자 정의 가능한 도구 매크로 명령을 사용한 검사 프로세스의 전체 자동화, 전체 결함 관리 및 결함 편집 (비교, 유연한 보고, 실시간 추세 분석 등) 이 포함됩니다. 전반적으로 SEMILAB/SDI WT-1000B는 빠르고 정확한 웨이퍼 및 마스크 검사를 제공하기 위해 구축 된 강력하고 신뢰할 수있는 자산입니다. 고급 기능과 사용자 친화적 인 소프트웨어 (User-Friendly Software) 를 통해 운영 라인 검사, 프로세스 최적화, 생산성 향상에 필수적인 툴이 될 것입니다.
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