판매용 중고 SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9236891

SEMILAB/SDI FAaSt 350은 반도체 산업의 마스크와 웨이퍼를 검사하도록 설계된 전문 기기입니다. 장비는 프레임 그래버, 디지털 또는 아날로그 카메라, 이미지 처리 소프트웨어, 패턴 인식 모듈 (pattern recognition module) 로 구성된 고급 광학 현미경으로 구성됩니다. wafer die, circuit pattern 또는 reticle과 같은 더 작은 이미징 응용 프로그램에 이상적입니다. 이 "시스템 '은 가장 작은 불규칙성 까지도 탐지 하도록 설계 되어 있어서" 반도체' 장치 내 의 문제 들 을 조기에 탐지 할 수 있다. 그렇지 않으면 너무 작아질 것 이다. 웨이퍼 (wafer) 또는 요소의 모든 영역을 검사하여 균일성을 확인할 수 있습니다. SDI FAaSt 350에는 풀 필드 조명 장치와 OCM (Object-Centred Microscopy) 이 장착되어 있습니다. 이 빛 을 비추는 기계 는 매우 밝고 균일 한 빛 을 만들어 내는데, 그 광선 을 연구 할 수 있는 여러 부분 에 초점 을 맞추는 방법 으로 "샘플 '위 로 향하고 밝혀진다. 이를 통해 공구는 서브 미크론 (submicron) 기능을 이용할 수 있으며, 이는 전통적인 수단으로 감지하기가 어려울 수 있습니다. 3D 이미지 처리 에셋을 사용하면, 이 모델은 놀라운 정밀도로 피쳐를 감지하고 측정할 수 있습니다. 형상 분석 (geometric analysis) 방법을 사용하여 마스크 또는 웨이퍼의 3 차원 뷰를 사용할 수 있으므로 단일 작업에서 여러 피쳐 치수를 모니터할 수 있습니다. 이러한 유연성을 통해 SEMILAB FAaSt 350 은 매우 다양한 장치로 사용되며, 단순한 결함 분석 (simple defect analysis) 에서 복잡한 프로파일 측정 (complex profile measurements) 에 이르기까지 다양한 검사 작업을 단일 데이터 세트로 사용할 수 있습니다. 전체 터치스크린 제어 (touchscreen control) 작업을 통해 장비가 편리하게 구성되므로 운영자가 효율적이고 정확하게 작동할 수 있습니다. 또한 Planar, Point Guard, Line Guard, Contrast analysis, Multi-Channel Contrast, Messaging 및 고속 작동과 같은 다양한 고급 조명 옵션이 있습니다. 이미지와 결과를 정확하고 빠르게 캡처하기 위해 쉽게 프로그래밍 할 수 있습니다. 전반적으로, FAaSt 350은 고해상도 분석, 객체 기반 시청, 빠르고 정확한 결과를 제공하는 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템입니다. 각기 다른 검사 작업 (inspection task) 과 환경에 맞게 조정할 수 있으며, 반도체 생산에서 최고 수준의 품질 관리 (quality control) 를 보장하기 위한 안정적이고 효율적인 장치입니다.