판매용 중고 SEMILAB / SDI FAaSt 330 #9133013

SEMILAB/SDI FAaSt 330은 반도체 제조 시설에 사용하도록 설계된 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 모듈 식 웨이퍼 검사 장치와 강력한 반음계 현미경으로 구성됩니다. 이러한 구성 요소를 함께 사용하면 반도체 마스크와 웨이퍼 (wafer) 를 정확하게 검사하여 프로덕션 워크플로우에서 다양한 용도로 사용할 수 있습니다. 모듈식 SDI FAaSt 330 장치는 낮은 기술자의 개입으로 생산성을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. 이 기계는 처리량이 많은 상태에서 작업을 가능하게 하는 자동 샘플 로드, 측정, 언로드 프로세스를 갖추고 있습니다. 모듈식 (Modular) 설계를 통해 유연한 구성도 가능합니다. 이 도구는 사용자의 요구 사항과 운영 환경에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. 자산의 강력한 반음계 현미경 (chromatic microscopy) 은 마스크와 웨이퍼 표면을 빠르고 정확하게 검사 할 수 있습니다. 현미경에는 넓은 시야와 최대 18,000 배의 높은 배율이 장착되어 있습니다. 이를 통해 칩 모서리와 피쳐를 빠르고 정확하게 검사할 수 있으며, 이를 통해 빠른 결함 식별이 가능합니다. SEMILAB FAaSt 330 모델은 견고하고 신뢰할 수있는 인클로저에 장착되어 있어 환경 습도와 먼지에 강합니다. 이 장비는 또한 특수 결함 분석 알고리즘, 통합 이미지 감지 (integrated image sensing) 및 이미지 분석 장치 (image analysis unit), 결함 감지 시스템 (defect detection system) 을 포함한 고급 소프트웨어 및 하드웨어 구성 요소를 갖추고 있습니다. 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 장치를 쉽게 설치, 구성, 사용할 수 있습니다. FAaSt 330 기계는 반도체 생산 시설에서 배포, 구성, 관리가 용이하도록 설계되었습니다. 이 도구는 빠르고 정확한 검사 성능을 제공하여 조기 결함 확인 (early defect identification) 및 향상된 생산 수율을 제공합니다. 또한 개별 사용자 요구 사항과 운영 환경에 맞게 자산을 맞춤형으로 구성할 수 있으며, 마스크 및 웨이퍼 검사 (wafer inspection) 요구 사항을 충족하는 유연하고 신뢰할 수 있는 솔루션입니다.