판매용 중고 RUDOLPH WV 320 #9355359

RUDOLPH WV 320은 자동 품질 스캔 및 웨이퍼 및 마스크 검사를 위해 설계된 'Mask & Wafer Inspection' 장비입니다. RUDOLPH WV320은 고급 옵티컬 유닛 (Optical Unit) 과 통합 분석 소프트웨어를 통합 한 전체 기능 검사 시스템입니다. 서브 미크론에서 1mm 이상의 크기까지의 결함을 감지 할 수 있으며, 마스크 검사 (Inspection of Mask) 에서 웨이퍼 검사 (Wafer Inspection) 에 이르기까지 다양한 응용 프로그램에 적응할 수 있도록 설계되었습니다. 이 기계는 근적외선 (near infrared) 범위에서 파장으로 고해상도 이미징을 수행 할 수 있습니다. 카메라 고급 CCD 이미지 처리 칩은 1초 이내에 이미지를 캡처할 수 있습니다. 완전 자동화 (Fully Automated) 툴을 사용하여 다양한 시야에서 마스크 및 웨이퍼 (Wafer) 기능을 검색, 차별화하여 처리량을 높이고 전반적인 검사 비용을 절감할 수 있습니다. WV 320은 대화형 사용자 환경 (Interactive User Experience) 을 제공하여 사용자가 식별된 결함을 확대하고, 검사해야 하는 이미지의 매개변수를 수정하고, 이미지를 저장하여 나중에 검토할 수 있도록 합니다. 에셋은 또한 마스크 (Mask) 를 웨이퍼 (Wafer) 에 빠르고 정확하게 정렬하여 정렬 과정에서 불필요한 시간이나 수작업 (Manual Labour) 을 최소화할 수 있습니다. 또한 WV320은 SEM (Scanning Electron Microscope) 및 X-ray 검사와 같은 다른 검사 시스템과 통합되어 포괄적인 결함 식별이 가능합니다. 이 모델에는 자동화된 결함 검토 (Automated Defect Review) 를 제어할 수 있으며, 사용자가 의심스러운 결함을 신속하게 식별하고 격리하여 잘못된 양의 수를 줄일 수 있습니다. 또한 RUDOLPH WV 320에는 '데이터 캡처 도구 상자 (Data Capture Toolbox)' 가 포함되어 있으며, 이를 통해 분석 및 비교 기능을 통해 사용자가 검사 결과를 파악할 수 있습니다. 직관적인 인터페이스와 사용이 간편한 소프트웨어 (Use-Use Software) 를 통해 Wafer 및 Mask 검사 과정에서 정보에 입각한 의사 결정을 내릴 수 있는 탁월한 플랫폼을 제공합니다. 전반적으로 RUDOLPH WV320은 자동화된 품질의 스캐닝 및 웨이퍼/마스크 검사를 위한 효과적이고 효율적인 장비입니다. 이 제품은 고품질 (High Quality) 결과를 제공해야 하는 모든 운영 환경에 이상적인 솔루션이 되는 강력한 기능을 제공합니다.