판매용 중고 RUDOLPH Waferview 320 #9311789

RUDOLPH Waferview 320은 반도체 산업을위한 최첨단 종합 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 디지털 CMOS 센서와 고급 소프트웨어 프로그래밍 기술을 결합하여 사진 처리 마스크 (photo-processed mask) 및 웨이퍼 (wafer) 에 대한 다양한 결함 및 설계 정보에 대한 최고 품질의 이미징 및 분석을 제공합니다. Waferview 320은 픽셀당 최대 2000 미크론 (다른 시스템보다 2 배 더 나은 해상도) 의 이미지를 제공하여 매우 정확한 결함 감지 및 분석을 제공합니다. 이미지 캡처 (image capture) 및 결함 (defect) 보고 기능을 통해 웨이퍼를 완벽하게 검사하고 제품 품질을 극대화할 수 있습니다. RUDOLPH Waferview 320의 독특한 특징은 레이저 자동 초점 및 추적입니다. 이 시스템은 세부 정보 지향 이미징 (detail-oriented imaging) 및 결함 위치를 허용합니다. 이 위치는 웨이퍼를 정확하게 검사하는 데 매우 중요합니다. 또한 Waferview 320은 고급 에지 감지 (edge-detection) 및 명암비 (contrast) 알고리즘을 사용하여 작고 덜 명백한 결함을 감지하고 분석 할 수 있습니다. RUDOLPH Waferview 320은 이미징 기능 외에도 결함을 감지하고 분류하기 위해 다양한 측정을 수행합니다. 이 측정은 높은 정밀도로 수행되며, 크기가 1 미크론만큼 작습니다. Waferview 320의 소프트웨어 프로그래밍은 사용자 친화적이며 직관적입니다. 간편한 설치/운영 (Set Up/Operation) 기능을 통해 사용자는 매개변수를 손쉽게 조정할 수 있고, 특정 요구 사항에 맞게 검사 장치를 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 전체 사용자 보고서 (Comprehensive User Report) 를 통해 검사 프로세스의 결함에 대한 자세한 정보를 제공합니다. 전반적으로 RUDOLPH Waferview 320 마스크 및 웨이퍼 검사기는 결함 있거나 결함이있는 사진 처리 마스크 및 웨이퍼 연구를위한 일체형 솔루션입니다. 고급 이미징 (Advanced Imaging) 기능과 결함 측정 기능을 제공하여 최고의 해상도와 화질 (Quality of Imaging) 을 제공하며 사용자 설정 및 작업이 간편합니다. 이러한 기능을 통해 제품을 정확하게 검사하고 제품 품질을 최적화할 수 있습니다 (영문).