판매용 중고 RUDOLPH / AUGUST NSX 95 #293755012

RUDOLPH/AUGUST NSX 95 Mask & Wafer Inspection Equipment는 반도체 웨이퍼, 레티클, 마스크 및 평면 패널의 표면에서 결함 및 오염을 감지 할 수 있도록 설계된 최첨단 광학 검사 시스템입니다. 이 장치는 표준 광학 검사 이외에도 표준적이고 직관적인 형식으로 결함을 표시하는 시각화 (Visualization) 방식인 고급 ColorMap ™ 기술 (Advanced ColorMap ™ Technology) 을 갖추고 있습니다. 8 월 NSX-95 시스템은 고급 이미지 처리 알고리즘을 사용하여 하드웨어 압축으로 밀리초 처리 속도를 달성하면서 결함을 감지합니다. 이를 통해 공구는 객체를 빠르고 정확하게 인식할 수 있으며, 복잡하고 중복된 이미지를 지연 시간 없이 처리할 수 있습니다. 온보드 에지 (on-board edge) 배율 제거 및 이미지 복원 등의 기능은 검사 결과가 항상 정확하고 신뢰할 수 있도록 합니다. 이 에셋은 표면 결함 및 오염 물질을 완벽하게 인식하고 캡처하기 위해 고성능 웨이퍼 스캐닝 (wafer scanning) 모델을 갖추고 있습니다. 대용량 시야, 고해상도 카메라, 고성능, 근적외선 LED 소스를 활용하여 성능 및 감도를 극대화합니다. 이 장비는 또한 다양한 마스크 및 레티클 측정 도구 (mask and reticle measurement tool) 를 갖추고 있으며, 이를 통해 누락된 기능, 근접성, 균일 성 등의 결함 및 오염을 측정 할 수 있습니다. 또한 각 설계 요소 (design element) 의 모서리에 상대적인 결함의 위치를 측정합니다. 따라서 대부분의 표준 시스템 (standard system) 에서는 설계 요소의 모서리에 너무 작거나 너무 가까운 결함을 감지할 수 있습니다. 이 장치는 확장 가능하며, 특정 애플리케이션의 요구 사항에 맞게 기능을 사용자 정의할 수 있습니다 (영문). 카메라 (옵션) 와 조명 (조명) 업그레이드는 감도와 성능이 향상되는 반면, 마스크 측정 도구와 자동 결함 분류 기능은 필요에 따라 추가할 수 있습니다. RUDOLPH NSX 95 Mask & Wafer Inspection Machine은 마스크 및 웨이퍼 검사를위한 완벽한 솔루션을 제공하여 사용자가 결함 및 오염을 신속하고 정확하고 안정적으로 감지 할 수 있습니다. 고성능, 혁신적인 기능, 확장성 (Expandability) 을 갖춘 이 툴은 다양한 검사 요구 사항에 적합합니다.