판매용 중고 RUDOLPH / AUGUST NSX 90 #9222178

RUDOLPH/AUGUST NSX 90 Mask & Wafer Inspection Equipment는 반도체 산업을위한 실리콘 웨이퍼의 품질 제어를 보장하도록 설계된 고급적이고 구체적인 웨이퍼 검사 시스템입니다. 이 장치의 초고속 카메라는 bothabove 및 wafer 아래로 이미지를 캡처하여 wafer 표면을 총 360도 볼 수 있습니다. 이를 통해 웨이퍼 (wafer) 에 있을 수 있는 결함을 신속하게 감지할 수 있으며, 운영자는 웨이퍼 서피스를 수동으로 검사하지 않고도 웨이퍼 (wafer) 의 품질을 빠르고 정확하게 확인할 수 있습니다. 이 기계는 또한 자동 결함 인식 (Automatic Defect Recognition) 기술을 통합하여 효율성과 정확성을 향상시킵니다. 이 기술을 통해 도구는 웨이퍼에서 가장 일반적인 유형의 결함을 빠르고, 정확하게 식별 할 수 있습니다. 여기에는 핫 및 데드 픽셀, 다크 스팟, 마스크 결함, 스크래치, 오염 및 기타 일반적인 결함이 포함됩니다. 이 기술로, 자산은 매우 작거나, 맨눈으로 보기가 어렵더라도, 결함을 인식 할 수 있습니다. 8 월 NSX 90 은 결함 인식 기술 외에도 듀얼 빔 Brightfield/Darkfield 이미지 캡처 및 다양한 이미징 옵션을 제공합니다. 듀얼 빔 Brightfield/Darkfield 이미지 캡처를 통해 모델은 밝고 어두운 명암으로 고해상도 이미지를 캡처할 수 있습니다. 따라서 "웨이퍼 '의 작은 결함 을 쉽게 식별 할 수 있다. 또한, 이 장비에는 선택 가능한 대비 향상, 색상 크로스해칭 및 기타 다양한 이미지 조작이 포함됩니다. 루돌프 NSX-90 (RUDOLPH NSX-90) 에는 웨이퍼 품질 제어를 수행하는 데 특히 유용한 다양한 추가 기능도 포함되어 있습니다. 이러한 기능에는 온보드 PC, 직관적인 사용자 인터페이스, 디지털 보고서 생성 및 통신 기능이 포함됩니다. 또한, 시스템에는 사용 편의성과 정확성을 위해 교정 장치가 포함되어 있습니다. 궁극적으로 NSX-90 은 빠르고 정확한 웨이퍼 검사를 수행하는 데 이상적인 장치입니다. 첨단 결함 인식 기술 (Advanced Defect Recognition Technology) 과 다양한 이미징 기능을 통해 품질 관리 (Quality Control) 및 보증을 위한 효율적이고 안정적인 툴로서, 완성된 제품의 무결성을 보장합니다.