판매용 중고 RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #9389418

RUDOLPH/AUGUST NSX 115 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 최신 고해상도 비전 기술을 결합하여 뛰어난 검사 정확성과 신뢰성을 제공합니다. 이 "파이오니아 '제도 는" 마스크' 와 "웨이퍼 '검사 에 있어서 비길 데 없는 정확성 과 정확성 을 달성 하기 위한 종합적 인 고급" 이미지' 분석 알고리즘 '들 과 통합 되어 있다. 고급 광 이미징을 통해 AUGUST NSX 115는 나노미터 레벨에서도 패턴, 모양, 선, 모서리를 정확하게 감지 할 수 있습니다. 초고해상도 (Ultra-High Resolution) 는 서브픽셀 측정 정확도로 이미지를 캡처하여, 검사된 객체가 오늘날의 반도체 제작 프로세스에 필요한 엄격한 사양을 충족할 수 있도록 합니다. 그런 다음 고급 (Advanced) 알고리즘은 캡처된 데이터를 분석하여 웨이퍼 (Wafer) 또는 마스크의 특정 피쳐를 식별합니다. 이 피쳐는 원하는 패턴과 비교하여 정확합니다. 또한 RUDOLPH NSX 115에는 포괄적인 보고 기능이 있습니다. 모든 검사 결과 (Inspection Results) 및 분석 데이터 (Analysis Data) 는 쉽게 읽을 수 있는 형식으로 배포될 수 있으며, 이를 통해 구성 워크플로우 내의 결과와 그 의미를 쉽게 해석할 수 있습니다. 이 장치의 환경 친화적 인 설계는 또한 공간 절약형 (space-saving) 공간으로, 제한된 공간에서 쉽게 수용할 수 있습니다. 사용하기 편리하고 편리한 메뉴 기능을 통해 빠르고 효율적으로 작업을 수행할 수 있습니다. 또한 고급 (Advanced) 구성 기능을 통해 필요에 따라 시스템을 구성할 수 있습니다. 전체적으로 NSX 115 Mask and Wafer Inspection Machine은 고급 광 이미징 및 이미지 분석 알고리즘을 사용하여 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 구성 프로세스에 대해 안정적이고 정확한 결과를 제공합니다. 이러한 정확성은 종합보고, 사용자 친화적 인 컨트롤 및 환경 친화적 인 디자인으로 더욱 강화되었으며, 모두 RUDOLPH/AUGUST NSX 115를 마스크 및 웨이퍼 검사를위한 이상적인 도구로 만들었습니다.