판매용 중고 RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293637227

RUDOLPH/AUGUST NSX 115 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 고해상도 자동 반도체 광전자 검사 시스템입니다. 고급영상기술을 활용해 반도체 웨이퍼 (wafer) 생산에서 구조적· 전기적 결함을 감지한다. 이 장치는 견고하고 유연하며 검사 프로세스를 위해 반도체 (semiconductor) 패브와 같은 대용량 애플리케이션에 사용하도록 설계되었습니다. AUGUST NSX 115 검사 기계는 4 암 인덱서, 4 경로 이미징 플랫폼 및 표본 샘플 처리를위한 4 손가락 조작 암으로 구성됩니다. 이 도구에는 4 개의 이미징 헤드가 있으며 각각 최대 16 메가 픽셀 해상도입니다. 최첨단 조명 (Lighting) 및 광학 부품과 강력한 임베디드 (Embedded) 프로세서를 통합하여 빠르고 효율적인 이미지 캡처 및 분석을 지원합니다. 에셋에는 조리개 (aperture) 와 필터 홀더 (filter holder) 도 포함되어 있어 검사 매개변수를 최적화하기 위해 서로 다른 접근 방식을 선택할 수 있습니다. RUDOLPH NSX 115 모델은 다양한 마스크, 웨이퍼 구조 및 결함 유형을 인식 할 수 있습니다. 필요한 경우 단일 결함 감지 및 다중 매개변수를 모두 지원합니다. 또한 NSX 115 장비에는 종합적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 포함되어 있어 검사 프로세스를 손쉽게 프로그래밍하고 모니터링할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 다양한 데이터 분석/보고 소프트웨어 툴을 갖추고 있어 효율적이고 포괄적인 결함 보고 (reporting) 및 추세 조정을 용이하게 합니다. 마지막으로, RUDOLPH/AUGUST NSX 115 장치에는 자동 샘플 스토리지 시스템, 통합 비전 툴, 고속 정렬 기능 등 다양한 주변 장치 구성 요소가 장착되어 있습니다. 이 자산은 최소 잘못된 경보 율로 정확하고 안정적인 결과를 보장합니다. 또한 간편한 설치 및 유지 보수, 운영 라인 다운타임 최소화를 위해 설계되었습니다. 요약하자면, AUGUST NSX 115 Mask & Wafer Inspection Model은 대용량 반도체 패브용으로 설계된 고급 고해상도 자동 반도체 검사 장비입니다. 다양한 이미징 헤드와 고급 (Advanced) 기능을 제공하여 사용자가 검사 프로세스를 최적화할 수 있습니다. 또한, 이 시스템의 데이터 분석/보고 툴은 효율적이고 포괄적인 결함 보고/추세 분석 기능을 제공합니다.