판매용 중고 RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293595875

RUDOLPH/AUGUST NSX 115는 강력한 이미징 기술 및 고급 패턴 감지 알고리즘을 사용하여 다양한 반도체 제품 제조에 사용되는 마스크와 웨이퍼 (wafer) 의 결함을 감지하는 최첨단 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 5 인치 (5 인치) LCD 터치 스크린을 사용하여 사용하기 쉬운 사용자 인터페이스를 제공하여 운영자가 운영 프로세스의 품질을 신속하게 모니터링할 수 있습니다. 단색 디지털 카메라 (Monochrome Digital Camera) 와 전용 스캐닝 헤드 (Scanning Head) 를 사용하면 샘플을 통해 고속 단일 패스로 두 개의 이미지와 피쳐를 동시에 캡처할 수 있습니다. 고해상도 및 고이득 이미지 센서는 모든 유형의 결함에 대해 이미지 해상도를 높이며, 구성 가능한 피크 감지 설정 및 고급 디컨볼루션 (deconvolution) 기술을 통해 평면 이미징, 수직/수평 패턴 스캔, 라인 아트 및 비트맵 스캐닝을 동시에 사용할 수 있습니다. 이 기계는 또한 특정 결함 유형에 맞춰 마스크 검사를 위한 선택된 웨이퍼 검사 알고리즘 (wafer inspection algorithms) 과 알고리즘 (algorithms) 라이브러리를 제공하며, 이는 사용자의 특정 응용 프로그램 또는 테스트 요구사항에 맞게 구성할 수 있습니다. 최대 감지 기능을 위해, AUGUST NSX 115 는 결함 라이브러리, 히스토그램 편집 및 이동, 객체 분류기, 세분화 등 다양한 기능과 설정을 제공합니다. 마지막으로, 이 도구는 진정한 색상 이미징, 자동 결함 분류 및 점수, 결함 분석 및 정렬, 그리고 결함 분석 및 보고에서 연산자를 지원할 수있는 향상된 라이브러리 에셋을 제공합니다. 이를 통해 운영자는 결함의 근원을 이해하고 장애 분석 (Failure Analysis) 을 지원하며, 신속하게 수정하고, 생산 라인 지연을 최소화할 수 있습니다. 전반적으로 RUDOLPH NSX 115 Mask & Wafer Inspection Model은 반도체 제품 제조의 품질을 보장하기위한 강력한 도구입니다. 고급 스캐닝 기술 (Scanning Technologies), 장애 감지 알고리즘 (Fault Detection Algorithm) 및 사용자 친화적 인터페이스 (User-Friendly Interface) 의 조합으로 가장 어려운 결함까지도 효율적이고 신속하게 식별, 분석, 정량화하여 운영자에게 품질 제품을 보장해야 할 도구를 제공합니다.