판매용 중고 RUDOLPH / AUGUST NSX 105C #9300479

RUDOLPH/AUGUST NSX 105C Mask & Wafer Inspection Equipment는 최신 반도체 제작 프로세스에 사용되는 마스크와 웨이퍼를 검사하기위한 고해상도 시스템입니다. 이 장치는 2nm 해상도를 사용하며, 이는 가장 복잡한 패턴을 검사하기 위해 높은 정확도 이미지 해상도를 제공합니다. 광학은 고해상도 스캔 카메라에 연결되며, 이 카메라는 뛰어난 이미지 정의를 제공합니다. 8 월 NSX-105C 는 반도체 (semiconductor) 제작 프로세스에 뛰어난 이점을 제공하는데, 여러 결함 검사를 수행할 수 있고, 사양에 따른 프로세스 적합성을 평가할 수 있기 때문입니다. 이 기계는 2 개의 기본 유닛, 광원 모듈 및 자동 감지 모듈로 구성됩니다. 광원 모듈은 LED, 레이저, 아크 램프 등 다양한 조명을 제공합니다. 자동 감지 모듈은 여러 평면에서 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한 이미지 데이터의 분석 및 관리를 위한 소프트웨어를 제공합니다. RUDOLPH NSX 105 C는 최신 반도체 장치 제조의 정확한 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 고급 옵틱을 사용하면 구형 웨이퍼 검사 시스템에 비해 극적인 이미징 개선이 가능합니다. 이 도구는 전용 공중 이미지 감지 기술 (Propriational Airial Image Sensing Technology) 을 사용하여 단일 스캔 (Single Scan) 에 걸리는 시간에 웨이퍼 (Wafer) 의 전체 표면을 스캔 할 수 있습니다. 자산의 가볍고 컴팩트한 설계를 통해 대용량 (high-volume) 생산 환경에 적합합니다. NSX 105 C는 고급 결함 감지 기능도 제공합니다. 여러 고급 감지 알고리즘이 장착되어 있어, 뛰어난 결함 감지 성능을 제공합니다. 또한 사용자는 이 모델을 활용하여 빠르고 효율적인 데이터 분석을 수행할 수 있습니다. 이 장비는 사용자 친화적이며, 결함 감지 (Defect Detection) 를 극대화하는 유용한 피드백 및 공급 분석 도구를 제공합니다. 전체적으로 NSX-105C Mask & Wafer Inspection System 은 대용량 운영 환경에 적합한 마스크 및 웨이퍼를 검사하기 위한 고급 장치입니다. 고급 옵틱을 사용하면 고해상도 이미지를 고해상도 (고해상도) 하여 빠르고 정확한 결함 감지 기능을 사용할 수 있습니다. 이 기계는 사용자 친화적이며 기능이 풍부하여 반도체 (semiconductor) 장치 제작 프로세스에 귀중한 자산입니다.