판매용 중고 RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293607882

RUDOLPH/AUGUST NSX 105는 고성능 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 반도체 마스크 및 웨이퍼의 검사 및 수리를 위한 현대적인 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 3D 이미지 인식, 이미지 스티칭, 듀얼 빔 레이저, 고급 이미지 처리 알고리즘과 같은 고급 검사 기술을 사용하여 IC의 결함을 정확하게 파악하고 찾을 수 있도록 설계되었습니다. AUGUST NSX-105는 '듀얼 빔' 디자인에서 두 개의 레이저를 사용합니다. 이러한 레이저를 사용하면 모양, 크기 및 기타 특성에 관한 웨이퍼 (wafer) 및 마스크 (mask) 패턴을 정밀하게 분석할 수 있습니다. 장치에 의해 생성된 모든 이미지는 추가 처리 (processing) 및 분석 (analysis) 에 사용하기 위해 온보드 메모리에 저장할 수 있습니다. 이 머신에는 온보드 이미지 스티칭 (onboard image stitching) 옵션도 포함되어 있습니다. 이 옵션은 여러 이미지를 함께 연결하여 큰 필드를 보다 빠르고 정확하게 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 루돌프 NSX 105 (RUDOLPH NSX 105) 는 복잡한 패턴을 효율적이고 신속하게 검사할 수 있는 고급 소프트웨어 제품군을 갖추고 있습니다. 3D 이미지 인식 기능을 사용하면 매우 작은 결함과 패턴을 빠르고 정확하게 감지 할 수 있습니다. 또한, 이 툴에 사용되는 소프트웨어에는 추가 고급 기능 (예: 통합 경계 감지, 결함 클러스터링 알고리즘) 이 포함됩니다. 자산은 작고 가볍고 작동하기 쉽습니다. 단순한 인터페이스 (interface) 를 통해 운영자가 중요한 매개변수를 빠르게 조정하거나 사용자 지정 검사 절차를 설정할 수 있습니다. 또한 IC 생산 라인 및 IC 캡슐화 시스템과 같은 광범위한 응용 프로그램 및 컨텍스트에서도 사용할 수 있습니다. RUDOLPH NSX 105는 반도체 마스크 및 웨이퍼를 검사하고 수리하기 위한 안정적이고 효율적인 솔루션입니다. 첨단 이미지 인식 및 이미지 스티칭 (image stitching) 기능은 고밀도 분석을 보장하는 반면, 사용하기 쉽고 유연한 사용자 인터페이스는 다양한 용도에 적합합니다. 이러한 기능의 조합으로, 이 모델은 정확하고, 안정적이며, 비용 효율적인 마스크, 웨이퍼 검사 (wafer inspection) 를 필요로 하는 모든 반도체 생산 환경에 적합한 선택입니다.