판매용 중고 RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293586627

RUDOLPH/AUGUST NSX 105 Mask & Wafer Inspection 장비는 마스크 및 엔지니어링 웨이퍼 제품을 검사하기위한 포괄적 인 패키지입니다. 기판 의 표면 에 존재 할 수 있는 결함 의 "이미지 '를 신속 하고 정확 하게 얻을 수 있으며, 고급" 이미지' 처리 "엔진 '을 사용 함 으로써 달성 된다. 이 시스템은 0.1 미크론에서 400 미크론 사이의 불투명 한 결함과 투명 결함을 모두 감지 할 수 있습니다. 이는 고해상도 이미징을 제공하도록 설계된 직접 (direct) 및 평면 (planar) 현미경과 함께 고해상도 컬러 CCD 카메라를 사용하여 수행됩니다. 8 월 NSX-105 Mask & Wafer Inspection 장치의 향상된 이미징 기능을 통해 불투명 및 투명 결함, 백사이드 이미징 (back-side imaging), 결함 매핑 (defect mapping) 등의 옵션 기능을 모두 감지할 수 있습니다. 마스크 테이블을 사용하여 기계는 시간당 600 웨이퍼 (wafer per hour) 의 스캐닝을 수행 할 수 있으며, 직접 현미경은 0.15 ° m까지 기능을 감지 할 수 있습니다. 게다가, 이 도구는 가능한 가장 빠른 광학을 사용하여 최고의 품질로 이미지를 캡처할 수 있습니다 (영문). 또한, 자산은 완전히 자동화되어 휴대용 워크스테이션을 통해 실행됩니다. 사용자 친화적인 소프트웨어를 사용하면 몇 번의 클릭만으로 빠르고 쉽게 탐색할 수 있습니다. 소프트웨어의 직관적인 GUI는 카메라의 이미지를 표시하고 확대/축소 (zoom), 밝기 (brightness) 와 같은 매개변수에 대한 액세스를 제공하여 특정 애플리케이션 요구에 맞게 모델의 성능을 사용자 정의할 수 있습니다. 이 장비는 또한 결함 계산 소프트웨어와 통계 프로세스 제어 소프트웨어 (Statistical Process Control Software) 를 제공하여 Pass-Fail Report 를 빠르고 정확하게 생성하여 시간 및 비용이 많이 드는 오류를 줄입니다. RUDOLPH NSX 105 Mask & Wafer Inspection 시스템은 광범위한 마스크, 웨이퍼 제조 및 엔지니어링 검사 요구 사항에 적합한 종합 검사 장치입니다. 직관적인 GUI 및 종합적인 기능 집합 (feature set) 을 통해 사용자는 특정 애플리케이션 요구 사항에 따라 빠르고 쉽게 시스템을 구성할 수 있습니다. 따라서, 이 도구는 제조업체에 마스크 및 엔지니어링 기판 모두에서 결함을 감지하고 추적하는, 안정적이고, 효율적이며, 비용 효율적인 방법을 제공합니다.