판매용 중고 RAYTEX RXW-1226SFI #9315831

RAYTEX RXW-1226SFI는 반도체 프로세스 환경에서 사용하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템에는 광시야각 (Optical Inspection Unit, OIS) 이 장착되어 있어 광시야각, 다크 필드 이미지 최적화, 구조화된 적외선 기술 등 다양한 결함을 감지한다. 또한, 고급 신호 처리 장치 (advanced signal processing machine) 는 결함을 자동으로 평가하여 심각도에 따라 분류할 수 있습니다. RAYTEX RXW 1226SFI는 10 마이크로 미터의 매우 높은 해상도를 가지고 있습니다. 따라서 마스크 및 기타 광저항 표면을 검사하는 데 매우 정확한 도구가 됩니다. 이 도구의 통합 광원 (integrated light source) 은 더 빠르고 높은 품질 분석을 지원하는 결함 검사 (defect inspection) 및 식별 (identification) 에 가장 높은 조명 조건이 제공되도록 합니다. 에셋에는 스트립 및 전체 범위 모드를 포함한 다양한 적용 범위 방법도 있습니다. 이들은 수행 가능한 검사 및 분석 유형 측면에서 유연성 (Flexibility) 을 제공합니다. 또한, 이 모델은 다양한 패턴 인식 알고리즘을 제공하여 결함 패턴을 자동으로 분석 (automated analysis) 할 수 있습니다. 이 장비에는 직관적이고 사용이 간편한 터치스크린 인터페이스 (Touch Screen Interface) 도 있습니다. 이렇게 하면 시스템을 쉽게 탐색할 수 있으며, 다양한 설정을 제어할 수 있습니다. 이 장치는 또한 다양한 사용자 정의 옵션 (customization options) 을 갖추고 있으며, 다양한 유형의 검사에 맞게 데이터 출력을 조정할 수 있습니다. 전반적으로 RXW-1226SFI는 우수하고 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 기계입니다. 고급 광학 검사 도구 (Advanced Optical Inspection Tool) 는 다양한 결함을 감지할 수 있으며, 사용자 정의 가능한 출력은 이러한 결함의 분석 및 검출에서 정밀도와 정확도를 높입니다. 이 자산은 매우 강력한 도구이며, 반도체 프로세스 환경에서 필수적입니다.