판매용 중고 OSI POLYCHECK W-LAF #9329316

OSI POLYCHECK W-LAF는 OSI Opto Electronics에서 개발 한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 포토마스크 (photomask) 와 웨이퍼 (wafer) 의 결함을 찾는 시간과 노력을 줄여주는 완전 자동화된 시스템이다. 이 장치는 웨이퍼 (wafer) 와 포토 마스크 (photomask) 의 이미지를 검사하여 결함을 확인한 다음 미리 분류로 정렬하여 작동합니다. POLYCHECK W-LAF는 광학 레이저 투영기 (Optical Laser Projection Machine) 를 사용하여 크기보다 작은 입자와 결함 (예: 크기보다 작은 입자) 을 감지 할 수 있습니다. 이 도구는 마스크 (mask) 와 웨이퍼 (wafer) 크기 수용성을 검사하고 마스크 양쪽에서 결함을 찾는 데 적합합니다. 이 자산은 해상도의 성능 외에도 두 가지 다른 광학 기능 (Optical Features) 을 통해 빠르고 정확하게 검사할 수 있습니다. 이 모델에는 라이브 이미징 기능 (Live Imaging Feature) 이 포함되어 있어 마스크 검사 프로세스를 단순화하고 속도를 높입니다. 실시간 이미징 기능 (Live Imaging Feature) 은 웨이퍼의 이미지를 실시간으로 캡처하며, 운영자가 이미지 내의 결함을 신속하게 확인할 수 있도록 합니다. 이 기능은 대용량 제조 어플리케이션에서 특히 유용합니다. 즉, 동일한 검사 결과를 신속하게 복제할 수 있습니다. OSI POLYCHECK W-LAF의 두 번째 기능은 자동 결함 정렬 기능입니다. 장비는 마스크 (Mask) 나 웨이퍼 (Wafer) 의 크기와 위치에 따라 결함을 빠르고 정확하게 정렬 할 수 있습니다. 이러한 결함 정렬 매개변수에는 x/y 좌표, 영역 크기, 밝기/강도, 종횡비 및 가장 가파른/붕괴율이 포함될 수 있습니다. 즉, 운영자가 보다 세부적인 검사가 필요할 수 있는 영역을 신속하게 파악할 수 있기 때문에 전체 검사 프로세스는 훨씬 빠르고, 더 효율적입니다. 전반적으로 POLYCHECK W-LAF는 인상적인 속도로 매우 높은 해상도의 스캔을 제공합니다. 실시간 이미징 (Live Imaging) 및 자동 결함 정렬 (Automated Defect Sorting) 기능을 통해 마스크나 웨이퍼의 결함을 빠르고 정확하게 찾는 이상적인 툴이 됩니다. 이 제품은 '결함 없음' 을 보장하면서 시간과 노력을 절감할 수 있는 강력한 시스템입니다.