판매용 중고 NIKON Optistation VII #9179814

NIKON Optistation VII는 고급형 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 웨이퍼 검사 프로세스의 생산성과 정확성을 높일 수 있도록 설계되었습니다. 이 시스템은 자동화된 고해상도 이미징 장치 (High-Resolution Imaging Unit), 고속 이미지 처리 아키텍처 (High-Speed Image Processing Architecture), 고급 알고리즘 (Advanced Algorithm) 과 같은 고급 기술을 사용하여 높은 처리량과 향상된 마스크 감지 기능을 지원합니다. Optistation VII는 제품 수준 마스크 및 웨이퍼 검사 요구 사항에 이상적이며, 저해상도 0.045 µm (광 해상도) 를 포함합니다. 이 고급 검사기 (Advanced Inspection Machine) 는 마스크 및 레티클 결함을위한 전체 웨이퍼 검사 기능을 가능하게 하며 검사 및 패턴 일치 (Pattern-Matching) 프로세스를 보완합니다. 고급 옵틱 (optic) 과 이미지 프로세싱을 활용하면 웨이퍼 영역의 100% 를 검사하여 크기나 모양에 관계없이 결함을 감지하고 분석할 수 있습니다. 이를 통해 품질 관리 및 추가 생산량 증가에 도움이 됩니다. NIKON Optistation VII는 여러 이미징 단계를 사용할 수 있으며, 이는 심층 검사, 마스크 비교, 마스크 레이아웃 및 변형 분석의 프로세스 기능에 사용할 수 있습니다. 게다가, 자산은 마스크에 보이지 않는 미세 결함 (micro-defects) 을 사람의 눈에 면밀히 관찰하는 데 사용될 수도 있습니다. Optistation VII는 다양한 아날로그, 디지털, 혼합 신호 어플리케이션을 빠르고 정확하게 분석하도록 설계되었습니다. 고속 이미지 처리 아키텍처 (High-Speed Image Processing Architecture) 와 고급 알고리즘 (Advanced Algorithm) 이 모델에 통합되어 더욱 빠르고 정확한 장애 감지 및 분석이 가능합니다. 이는 라인 쇼트, 라인 오픈, 비아, 전도성 루프, 연결되지 않은 패드 등과 같은 일부 테스트 구조의 정확성을 향상시키는 데 도움이됩니다. NIKON Optistation VII에는 작업 및 프로세스 자동화를 단순화하는 사용자 친화적 인 인터페이스도 포함되어 있습니다. 운영자 접근성 향상을 위해, 장비는 여러 사용자 정의 결과 표시 유형을 사용합니다. 여기에는 표 형식 (tabular) 및 그래픽 결과 (graphical results) 가 포함되며, 향상된 생산 프로세스 및 처리량에 대한 보다 자세한 장애 분석 및 관찰이 가능합니다. 결론적으로 Optistation VII는 신뢰할 수 있고 다양한 wafer 및 mask 검사 시스템으로 wafer 검사 프로세스의 생산성 및 정확성을 향상시킵니다. 고해상도 이미징 장치 (high-resolution imaging unit), 고급 알고리즘 (advanced algorithms) 및 이미지 처리 아키텍처 (image processing architecture) 를 통해 크기나 형태에 관계없이 결함을 감지하고 분석하여 품질 관리 및 생산량 향상을 지원합니다.