판매용 중고 NIKON Optistation VII #293634722

ID: 293634722
웨이퍼 크기: 12"
Wafer inspection system, 12".
NIKON Optistation VII는 최첨단 자동 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이것 은 "트랜지스터 ', 기억 및 기타 반도체 장치 를 포함 하여 여러 가지 기판 과 표면 의 결함 을 정확 하고 신속 히 탐지 하도록 설계 되었다. 직접 노출 (Direct Exposure) 및 고해상도 이미징 기능을 포함한 포괄적인 검사 시스템을 제공합니다. 이 장치는 다용도 다축의 고정밀 나노미터 스테이지 머신, 고해상도 웨이퍼 이미징 센서 및 통합 소프트웨어로 구성됩니다. 이러한 기능의 조합은 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 및 결함 탐지에 이상적인 솔루션을 제공합니다. 2 개의 고급 통신 렌즈 시스템, 초고해상도 LCD 모니터, 특허를 받은 듀얼 일루미네이션 도구 (Dual Illumination Tool) 가 장착되어 있어 최고의 결함 해상도를 제공합니다. 고급 사용자 인터페이스 (Advanced user interface) 기능을 통해 효율적이고 직관적인 작업과 자동화된 매개변수 설정, 다중 사용자 작업을 수행할 수 있습니다. 고급 결함 감지 방법에는 결함 형상 (defect geometry) 과 회색 음영 특성 (grayscale characteric) 의 분류 및 가중치가 포함되어보다 정확한 결함 감지 속도를 만듭니다. 이 자산은 다양한 인기있는 반도체 제작 프로세스 및 재료 제형과 호환되며 최대 600mm 웨이퍼 (wafer) 를 처리 할 수 있습니다. 데이터 교환용 컴퓨터 연결용 USB 포트가 여러 개인 임베디드 PC가 장착되어 있습니다. 이 모델에는 최고의 품질 검사 결과를 보장하는 정교한 설계 (design) 및 스트레스 분석 매개변수 (stress analysis parameters) 도 포함되어 있습니다. Optistation VII는 다양한 마스크 및 웨이퍼 검사 어플리케이션을 위한 고성능, 안정성, 정확성을 제공합니다. IC (Integrated Circuit) 디자이너, 마이크로 처리 엔지니어, 재료 과학자 및 미세 유체 엔지니어에게 이상적입니다. 사용이 간편한 사용자 인터페이스 (User Interface) 및 자동화 기능을 통해 다양한 검사 작업에 적합합니다. 듀얼 빔 디자인과 초고해상도 이미징 (ultra-high resolution imaging) 을 통해 가장 효율적이고 정확한 결함 감지 및 분류가 가능합니다.
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