판매용 중고 NIKON NRM-3300 #9315411

NIKON NRM-3300은 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 반도체 산업에 높은 처리량, 높은 정확도 조사 및 도량형 기능을 제공합니다. 이 시스템은 Wafer 및 디바이스 분석을 위해 저렴한 고성능 작업을 제공합니다. NRM-3300 장치는 Wafer 및 Device 작업에 모두 사용할 수 있는 통합 검사 및 측정 솔루션을 제공합니다. 기계의 마스크 검사 (mask inspection) 기능을 통해 사용자는 다이 마스크 및 표면에서 결함 및 가능한 변형을 신속하게 확인할 수 있습니다. 이 도구는 이미지 향상, 패턴 인식, 3D 결함 검사, 자동 정렬 등의 조합을 사용하여 스크래치, 짧은 회로 (short circuit), 간격 채우기 (gap fill), 치수 변화 등의 다양한 결함을 감지할 수 있습니다. 장치 분석의 경우 NIKON NRM-3300에는 여러 가지 고급 도량형 기능이 포함되어 있습니다. 자산의 인프라는 사후 조작 (post-manipulation) 및 사후 검사 (post-process inspection) 를 위해 다이 레벨 데이터의 캡처 및 분석을 용이하게하기 위해 사용될 수 있습니다. 여기에는 다양한 확대/축소 기능을 갖춘 장치 이미지를 수집한 다음 이미지 처리 기술을 적용하여 직각 Probe와 장치 매개 변수 (예: 선형, 동적 범위, 대비, 가시성) 에 대한 데이터를 제공합니다. 유연한 사용자 인터페이스를 통해, NRM-3300은 빠르고, 정확하고, 신뢰할 수 있는 검사를 위한 광범위한 도구를 제공합니다. 여기에는 실시간 패라메트릭 분석, 디지털 이미지 처리 및 컬러 비디오 이미징과 같은 내장 기능이 포함됩니다. 이 모델은 또한 다이 레벨 치수 도량형 (die-level dimensional metrology) 및 데이터 시각화를위한 포괄적인 측정 및 분석 기능을 제공합니다. 강력한 검사 기능 외에도 NIKON NRM-3300 장비에는 여러 가지 고급 기술 기능이 포함되어 있습니다. 자외선 이미징 (UV Imaging) 을 사용하여 보이지 않는 패턴 등록을 보장하고 미묘한 재료 변형을 신속하게 감지하고 다양한 실패 분석 응용 프로그램을 지원하도록 설계되었습니다. 이 시스템에는 패턴, 매개변수 세트, 이미지를 로드하고 저장할 수 있는 맞춤형 데이터 관리 도구도 포함되어 있습니다. 전반적으로 NRM-3300 마스크 및 웨이퍼 검사 장치는 강력하고 신뢰할 수있는 도량형 및 이미징 도구입니다. 이 기계는 고속, 결함 감지, 장치 분석, 프로세스 후 도량형 기능을 제공함으로써 반도체 산업을 위한 포괄적인 검사 및 측정 기능을 제공합니다. 니콘 NRM-3300 (NIKON NRM-3300) 은 종합적인 기능과 유연한 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 장치를 정확하고 신속하게 검사하고 측정하여 고장난 (failed) 작업을 신속하게 파악하고 수정할 수 있습니다.