판매용 중고 NIDEC TOSOK TWi-5000 #9280887

NIDEC TOSOK TWi-5000은 반도체 웨이퍼 및 마스크의 결함과 결함을 검사하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. TWi-5000 시스템은 광학 현미경, 적외선 및 자외선 현미경, 자동 웨이퍼 정렬, 하위 미크론 해상도, 자동 결함 감지 및 분류, 3D 맵 생성 및 전문 결함 분석의 최신 발전을 갖추고 있습니다. 이 장치는 고정밀도, 고해상도 프로젝션 현미경으로 구성되어 있으며, 최대 50mm (50mm) 의 시야로 웨이퍼와 마스크를 검사 할 수 있습니다. 특수 광학 설계를 통해 뛰어난 선명도로 결함과 결함에 액세스 할 수 있습니다. NIDEC TOSOK TWi-5000 기계는 0.1 미크론 크기의 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한 정교한 이미지 분석 (image analysis) 알고리즘을 사용하여 잠재적 결함을 자동으로 식별하는 기능을 통해 결함의 유형과 특성을 분류할 수도 있습니다. 또한 자동 웨이퍼 정렬 (automated wafer alignment) 기능이 장착되어 있어 웨이퍼 표면을 빠르게 스캔하여 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. 이를 통해 더 빠른 검사 및 결함 분석이 가능합니다. TWi-5000은 또한 3D 맵 생성을 특징으로하며, 이는 웨이퍼 표면의 디지털 3 차원 모델을 만듭니다. 이는 결함 플래깅 및 정렬, 여러 웨이퍼와의 비교에 유용합니다. 마지막으로 NIDEC TOSOK TWi-5000에는 결함 특성 및 검증을 위해 설계된 PDA (Professional Defect Analysis) 소프트웨어 제품군이 포함되어 있습니다. 이 직관적인 소프트웨어 제품군에는 수명 통계, 결함 비교, 여러 웨이퍼 (wafer) 비교, 인증/규정 준수 보고서 작성 등이 포함됩니다. 결론적으로, TWi-5000은 광학 현미경, 자동 웨이퍼 정렬, 하위 미크론 해상도, 자동 결함 감지 및 분류, 3D 맵 생성 및 전문 결함 분석에 관한 최신 기술을 제공하는 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 도구입니다. 반도체 제조· 검사 공정에 소중한 공구다. 중소형의 결함을 정밀하게 감지할 수 있다.