판매용 중고 NEXSION HV-5000C #168080

NEXSION HV-5000C는 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 작은 결함, 웨이퍼 모양 및 표면 결함, 표면 비 균일 성 및 프로세스 이상을 검사하고 식별하는 데 사용됩니다. 이 시스템은 반도체 제조에 사용되며, 극히 작은 것을 포함하여 고밀도의 결함 감지를 위해 설계되었습니다. HV-5000C는 마스크 및 웨이퍼 응용 프로그램 모두에서 고속, 높은 정확도를 검사합니다. 첨단 광학 이미징 (optical imaging) 과 정교한 결함 탐지 알고리즘은 마스크 (mask) 와 웨이퍼 (wafer) 표면에서 매우 작은 결함을 식별하는 데 가장 높은 수준의 정확도를 제공합니다. 이 장치는 반사 된 강도를 표시하는 회절점 분포 맵 (diffraction point distribution map) 을 사용하며, 5 미크론의 해상도로 최대 25 미크론의 결함을 감지 할 수 있습니다. NEXSION HV-5000C는 스크래치, 반점, 선, 핀홀, 입자, 굴 및 재료 이상을 포함한 광범위한 결함을 감지 할 수 있습니다. 이 기계는 4 레그 (4-legged) 또는 5 레그 (5-legged) 로봇으로 구성 될 수 있으며, 결함 웨이퍼를 정렬하고 추출하여 비용 효율적인 웨이퍼 생산에 이상적입니다. 또한 소프트웨어 도구의 종합적인 패키지가 함께 제공되므로, 결함 감지 프로그램 (Defect Detection Program) 은 특정 검사 요건을 충족하도록 맞춤형으로 조정할 수 있습니다. 또한 HV-5000C 는 내장형 미니 자동화 툴을 갖추고 있어 다양한 스테이지 및 로드 포트 (load port) 와의 인터페이스를 통해 자동 프로세스 (loading to unloading and storing of wafer) 를 지원합니다. 또한 원격 진단 자산 (Remote Diagnostic Asset) 이 장착되어 있어 모델 성능과 구성 요소 테스트를 원격으로 모니터링할 수 있으며, 서비스 용이성을 보장합니다. NEXSION HV-5000C는 강력하고 안정적인 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 고급 광학 이미징 (Optical Imaging), 정교한 결함 감지 알고리즘, 유연성 등을 통해 정확하고 안정적인 품질 관리 (Quality Control) 검사를 실행할 수 있습니다. 기본 제공되는 미니 자동화 시스템 (Mini-Automation System) 은 Wafer 처리를 경제적으로 자동화하는 데 이상적인 솔루션입니다.