판매용 중고 NAPSON NC-3000F #9085605

NAPSON NC-3000F (NAPSON NC-3000F) 는 마이크로 일렉트로닉스 및 반도체 산업에 사용하도록 설계된 고급적이고 신뢰할 수있는 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템에는 최고 해상도의 이미징을 제공하기 위해 FESEM (Field Emission Scanning Electron Microscope) 또는 일반 이미징 (Normal Imaging) 옵션을 선택할 수 있습니다. NC-3000F는 최대 해상도 (2 m) 이며 스캐닝 정확도 (0.1 ° m) 를 달성 할 수 있습니다. 즉, 매우 작은 기능과 마스킹 요구 사항을 검사 할 수 있습니다. 검사 프로세스를 최적화하고 이미지 품질을 높일 수 있도록 다양한 조정 가능한 (adjustable) 매개변수가 장착되어 있습니다. NAPSON NC-3000F는 고해상도 이미징 기능과 함께 강력한 자동 웨이퍼 검사 장치 (Automated Wafer Inspection Unit) 를 통해 초당 최대 1000 웨이퍼의 자동 초점 이미지를 정확하게 얻을 수 있습니다. 이 기계는 독점 Brightfield Inspection 기술을 사용하여 스크래치, 오염, 불완전한 리소그래피 또는 기타 문제로 인한 항복 결함을 쉽게 식별 할 수 있습니다. NC-3000F의 직관적 인 기능은 매우 도전적이고 까다로운 마이크로 일렉트로닉 이미징 어플리케이션에 이상적인 선택입니다. 여러 가지 자동 기능 (예: 다중 마스크 정렬, 흰색 조명 간섭 보정, 기타 고급 이미지 분석 옵션) 을 갖추고 있습니다. 또한, 이 도구는 정확하고 반복 가능한 웨이퍼 정렬을 용이하게하기 위해 높은 정확도 단계를 갖추고 있습니다. 결론적으로, NAPSON NC-3000F 마스크 및 웨이퍼 검사 자산은 고정밀 이미징 응용 분야에 이상적인 도구입니다. 고급 이미징 기능, 자동 이미지 수집 (Automated Image Acquirition), 직관적인 기능을 통해 강력한 모델로, 높은 수준의 정확성과 반복성을 제공합니다.