판매용 중고 NANOMETRICS Spark-300 #9352204

NANOMETRICS Spark-300은 "마스크 및 웨이퍼 검사" 장비로, 최신 반도체 생산 프로세스에서 뛰어난 작동 정확성과 품질을 보장하는 고해상도 도량형 기술을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 인쇄 회로 기판 (printed circuit board), 반도체 웨이퍼 (semiconductor wafer) 및 기타 소형 부품의 자동 측정 작업 구조를 용이하게하도록 특별히 설계되었습니다. 스파크-300 (Spark-300) 은 다양한 자동 스캐닝 기술과 기능을 제공하여 정확한 도량형 분석에 이상적입니다. 이 기계에는 넓은 시야의 쿼츠 렌즈, 고감도 광전 센서, 전용 소프트웨어 및 기능 인식 알고리즘이 포함되어 있습니다. 내장형 레이저 탐지기 (Laser Detector) 와 다양한 광학 구성을 통해 검사된 컴포넌트를 정확하고 정확하게 분석할 수 있습니다. 이 도구는 새로 설계된 조명 제공 자산 (Illumination Delivery Asset) 을 갖추고 있으며, 조명 측면에서 절대적인 유연성과 8x8 ~ 150x150mm 범위의 조정 가능한 패턴 크기를 제공합니다. 이를 통해 사용자는 다른 조명 소스 (lumination source) 를 전환하여 더 큰 컴포넌트를 분석 할 수 있습니다. NANOMETRICS Spark-300 모델은 작업 매개변수 (예: 레이어 두께, 회로 패턴 모양, 크기 등), 디지털 이미지 비교, 재 작업 분석 등 여러 분석 기능을 제공합니다. 이 장비는 사용자에게 친숙한 대화식 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 에서 작동합니다. GUI를 사용하면 단색 이미지와 이진 이미지를 보고, 레이어 두께를 측정하고, 매개변수를 실시간으로 분석할 수 있습니다. 또한 GUI 를 사용하면 데이터를 손쉽고 효율적으로 검색하고 분석할 수 있습니다. 시스템 성능을 더욱 향상시키는 검사 키트 (옵션) 를 사용할 수 있습니다. 이 키트에는 샘플 대상 보드 (sample target board) 와 테스트 표본뿐만 아니라, 심층 테스트 및 분석을 위한 데이터 처리 분석 (data processing analysis) 애플리케이션이 포함되어 있습니다. 요약하면, Spark-300 마스크 및 웨이퍼 검사 장치는 현대 반도체 생산 프로세스에서 자동 도량형 분석에 대한 뛰어난 정밀도와 정확성을 제공합니다. 이 기계는 최신 스캐닝 및 검사 (Scanning and Inspection) 기술로 구동되며, 향상된 성능을 위한 혁신적인 조명과 광학 구성을 제공합니다. 이 툴은 사용하기 쉽고 비용 효율적이며, 자동화된 검사 및 분석 (analysis) 작업에 이상적인 툴입니다.