판매용 중고 NANOMETRICS NanoSpec AFT #9354593

ID: 9354593
Microscope Part number: 010-0181.
NANOMETRICS Nano Spec AFT는 NANOMETRICS에서 설계 및 제조 한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 고급 검사 기술을 사용하여 반도체 마스크 및 웨이퍼의 패턴을 검사합니다. 이 시스템은 반도체 웨이퍼 (wafer) 에서 다양한 패턴 결함을 식별하고 분류할 수 있습니다. NANOMETRICS NANOSPEC/AFT의 고유 한 기능에는 자동 검사 중에 정확하고 일관된 초점 조정이 가능한 자동 초점 교정이 포함됩니다. 또한 고급 이미지 분할 (Advanced Image Segmentation) 기술을 사용하여 0.1hm에 육박하는 독보적인 해상도의 작은 결함을 감지합니다. 이 고급 이미징 (Advanced Imaging) 기술은 또한 고대비 감도 (High-Contrast Sensitivity) 와 넓은 동적 범위 (Dynamic Range) 를 가질 수 있으며, 이를 통해 전통적인 검사 시스템에서 보이지 않는 미묘한 결함과 미세한 결함을 감지 할 수 있습니다. AFT 머신은 또한 강력하면서도 직관적이고 사용하기 쉬운 종합적인 분석 제품군과 통합되어 있습니다 (영문). 이 제품군을 사용하면 결함 분류 (defect classification), 결함 집단의 특성화 (characterization) 등 다양한 작업을 수행할 수 있습니다. 또한 사용자가 원하는 결과에 맞춘 특정 검사 매개변수를 실행할 수 있는 도구 () 를 설정할 수 있습니다. AFT 자산은 신속하고 정확하게 결함을 감지하고 현지화하는 데 사용할 수 있는 효율적인 도구입니다. 고객은 빠르고 안정적인 결과를 얻을 수 있으며, 높은 처리량을 통해 시간당 최대 160개의 웨이퍼를 처리할 수 있습니다 (영문). 모델의 다중 이미징 모드 (multiple imaging mode), 탐지 알고리즘 (detection algorithms) 및 신호 처리 기술을 사용하여 웨이퍼 및 마스크 검사를위한 이상적인 도구입니다. 마지막으로 Nano Spec AFT는 강력하고 안정적이며 비용 효율적인 장비입니다. 최소한의 설치 공간을 활용하면서 고객에게 최상의 품질과 성능을 제공하도록 설계되었습니다 (영문). 고급 이미지 처리 및 분석 (Advanced Imaging and Analysis) 소프트웨어를 사용하면 검사를 최적화하고 고품질의 결함이 없는 제품을 얻을 수 있습니다.
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