판매용 중고 NANOMETRICS NanoSpec AFT 2100 #293754157

NANOMETRICS NenSpec AFT 2100은 단일 웨이퍼 마스크 및 웨이퍼 검사 (AFT) 장비로, 여러 초점 수준에서 최대 3 "웨이퍼를 측정 할 수 있습니다. 시스템은 결함 집계, 데이터 컴포넌트 (data component), 프로세스 매개변수 (process parameter) 를 분석하는 데 사용되므로 디바이스 성능을 파악할 수 있습니다. 이 장치는 풀 뷰 (field-of-view), 고해상도 센서 및 초고속 프레임 속도를 갖춘 고급 이미징 플랫폼을 갖추고 있습니다. 이 플랫폼은 또한 0.2 "m '에서 500" m' 사이의 입자를 감지 할 수 있으며 진정한 서브 미크론 해상도를 제공합니다. 또한, 이 기계는 정확도, 효율성, 반복성을 최대화할 수 있도록 설계된 포괄적인 기능을 제공하는 소프트웨어 (full suite) 소프트웨어 도구를 제공합니다. Nano Spec AFT 2100에는 고속 레이저 자동 초점 도구, 입자 자동 검출을위한 패턴 인식 기능, 사용자 정의 가능한 매크로 관리 에셋 (macro management asset) 이 장착되어 있어 사용자가 직접 레시피를 만들고 저장할 수 있습니다. 이 모델은 고품질 이미징 및 결함 분류 기능을 제공하며, 정확도가 우수합니다. 검토 스테이션 (옵션) 은 듀얼 뷰 디스플레이, 실시간 3D 렌더링 및 멀티 줌 기능을 포함한 고급 보기 기능을 추가합니다. NANOMETRICS Nano Spec AFT 2100에는 실시간 피드백 (feedback) 장비가 제공되어 각 검사 작업이 시간과 사양에 따라 수행되도록 도와줍니다. 이 시스템은 서브 마이크론 크기의 기능에 대한 정확하고 신뢰할 수있는 고급 마이크로 일렉트로닉 제조업체 및 장치 제조업체에 적합합니다. 이 장치는 복잡한 패턴, 입자, 결함을 분석하기 위한 다양한 옵션을 제공하며, 웨이퍼 (wafer) 및 마스크 (mask) 수준의 결함 모두에 대한 자세한 정보를 제공할 수 있습니다. 이 기계는 품질 관리 및 비용 절감을 개선하는 데 유익합니다. 또한, Nano Spec AFT 2100은 기존 생산 라인에 쉽게 통합되어 들어오는 재료를 빠르고 안정적으로 분석 할 수 있습니다. 전반적으로 NANOMETRICS Nano Spec AFT 2100은 미세 전자 수준에서 미묘한 결함과 입자 모두에게 고성능, 신뢰할 수있는 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 이 도구의 기능은 사용자가 결함을 최소화하고 운영 프로세스 전반에 걸쳐 품질 관리 (Quality Control) 를 보장하는 데 도움이 됩니다. 또한 제조업체는 Nano Spec AFT 2100 자산을 기존 시설에 통합함으로써 비용 효율성과 효율성을 누릴 수 있습니다.