판매용 중고 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9086405

NANOMETRICS Nano Spec AFT 210 Mask & Wafer Inspection 장비는 중요한 전자 장치의 비파괴 검사를 위해 설계된 고급 도량형 장비입니다. 이 시스템에는 초고해상도 이미징 장치 및 SEM (Scanning Electron Microscope) 광학이 장착되어 있어 빠르고 정확한 이미징이 가능합니다. 탁월한 정확성과 반복성으로 매우 선명한 이미지를 구현할 수 있는 독보적인 자동 초점 (auto-focus) 기술이 특징입니다. 이 기계는 또한 고속 매핑 (High-Speed Mapping) 기능을 제공하여 광범위한 재료를 신속하게 이미징, 분석, 진단할 수 있습니다. 이 도구의 자동 처리 자산에는 자동 8 점 자동 초점 정렬 프로세스, 정밀 제어 웨이퍼 스테이지 및 패턴 인식 소프트웨어가 포함됩니다. 이 모델을 사용하여 연산자는 최소한의 노력으로 이미징 (imaging) 매개변수를 쉽게 지정하고 조정할 수 있습니다. 고감도 AutoFocus 기술은 정확한 이미지 정렬을 보장하며, 스캐닝 전자 현미경 광학은 가장 정확한 해상도를 제공합니다. NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210은 또한 영역 결함 매핑 및 밝은 필드/다크 필드 분석을 포함한 다양한 이미지 및 분석 기능을 지원합니다. 이 장비는 이미지 세분화 (segmentation) 옵션 배열을 통해 분석의 결함을 분리하고 표시할 수 있습니다. 또한 스냅샷 보정 및 자동 마스크 정렬을 지원합니다. Nano Spec AFT 210에는 강력한 소프트웨어 패키지도 있습니다. 소프트웨어 제품군에는 통계 분석 (statistical analysis) 및 프로세스 최적화를 위한 내장 스크립트 (내장) 와 같은 통합 측정 및 분석 도구가 포함되어 있습니다. 이러한 도구를 사용하면 이미지에서 상세한 도량형 정보를 추출할 수 있습니다. 또한 강력한 네트워크 연결 기능을 통해 실시간으로 결과를 공유할 수 있습니다. 전반적으로 NANOSPEC/AFT 210은 강력하고 경제적이며 사용이 간편한 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템입니다. 자동 8 점 자동 초점 정렬, 고감도 현미경 광학, 영역 결함 매핑 기능 등 다양한 고급 도량형 기능을 제공합니다. 또한 다양한 측정/분석 툴을 갖춘 강력한 소프트웨어 제품군도 갖추고 있습니다. 제조 및 도량형 전문가에게 이상적인 선택입니다.