판매용 중고 NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE #9096765

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ID: 9096765
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 1998
Thin film measurement system, 8" Cassette to cassette Ellipsometer: J.A. Woolham M44 Operating system: IBM OS Light source: LPS-300, 75W EC 270 Pre-aligner: 5" - 8" 115V, 5A, 30/60Hz. 1998 vintage.
NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE는 최고의 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 수많은 고정밀 작업을 수행할 수 있습니다. 다양한 집적 회로 (IC) 컴포넌트의 금속 레이어, 금속 평면, 접촉 비아 및 겹치는 테두리를 정확하게 측정하는 데 사용할 수 있습니다. 이 시스템은 나노 미터 레벨 스케일을 측정하는 매우 작은 광학 부품을 사용합니다. 이러한 컴포넌트를 사용하면 IC 컴포넌트의 극도로 정확한 측정이 가능하며, 가장 정확한 측정이 가능합니다. NANOMETRICS NANOSPEC 8000X SE는 강력한 현미경으로 인해 매우 높은 해상도로 실시간으로 이미징 할 수 있습니다. 이렇게 하면 정밀도가 훨씬 큰 이미지를 렌더링할 수 있으며, 단위를 통해 여러 유형의 샘플 서피스를 정밀도가 높은 채 단 몇 초 안에 비교할 수 있습니다. (영문). 또한 강력한 알고리즘을 사용하여 미세 표면 (microscopic surface) 피쳐를 빠르게 식별하고 샘플의 비정상적인 변형 또는 결함을 감지 할 수 있습니다. NANOSPEC 8000 XSE의 다른 기능으로는 맞춤형 광 단계, 소프트웨어 제어 자동 초점, 자동 정렬 등이 있습니다. 광학 단계 (optical stage) 는 수많은 각도와 높이를 통해 작동 할 수 있으므로 샘플의 다른 부분을 매우 정확하게 측정 할 수 있습니다. 소프트웨어 제어 자동 초점 (autofocus) 을 사용하면 가장 자세한 측정이 가능하도록 초점 조정이 매우 정확합니다. 자동 정렬기 (Automated Alignment Machine) 도 현미경으로 샘플을 정확하게 배치하여 최적의 이미징을 할 수 있습니다. NANOSPEC 8000XSE에는 직관적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 가 있어 사용자의 요구에 가장 적합한 작업 흐름을 쉽게 만들 수 있습니다. 여기에는 다양한 샘플 유형과 매개변수가 포함된 고급 광학 이미징 라이브러리 (Advanced Optical Imaging Library) 가 포함되어 있어 모든 종류의 IC 컴포넌트를 정확하게 측정하고 평가할 수 있습니다. NANOSPEC 8000X SE가 가장 안정적이고 정확한 마스크/웨이퍼 (Mask & Wafer) 검사 시스템 중 하나인 이유를 쉽게 이해할 수 있습니다. 정밀도 (precision) 와 고급 (advanced) 소프트웨어를 통해 우수한 측정치를 제공하고 집적 (integrated) 회로가 제대로 작동하는지 확인할 수 있습니다. 따라서 IC 또는 기타 기술적으로 첨단 구성 요소를 사용하는 기업에게는 필수적인 툴입니다.
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