판매용 중고 NANOMETRICS NanoSpec 4150 #293650216

NANOMETRICS NenSpec 4150은 아트 웨이퍼 및 마스크 검사 장비의 상태입니다. Nano Spec 4150은 고급 이미징 및 스펙트럼 분석 (Spectral Analysis) 기술을 활용하여 운영자의 개입을 최소화하면서 안정적이고 정확한 검사를 수행합니다. 이 시스템은 최대 25 미크론 해상도의 상세한 고해상도 이미지를 제작할 수 있으며, 넓은 분석 범위는 1.0 ~ 21.0 미크론입니다. NANOMETRICS Nano Spec 4150은 마스크 패턴, 포토 마스크, 유리 기판 및 웨이퍼를 자동으로, 효율적이며 정확하게 검사하도록 설계되었습니다. 웨이퍼 (wafer) 및 마스크 검사에 필요한 모든 필수 이미징 및 스펙트럼 분석 기능을 제공합니다. Nano Spec 4150은 초점 이미징 기술 및 고해상도 분광법 (High-Resolution Spectrometry) 장치를 사용하여 칩과 웨이퍼의 가변성 및 결함 매개변수에 대한 신뢰할 수 있습니다. 한 이미지나 여러 이미지를 동시에 얻을 수 있습니다. 이 기능을 사용하면 치수, 대비 및 결함 감지와 같은 측정을 수행할 수 있습니다. NANOMETRICS Nano Spec 4150은 또한 스펙트럼의 가시적, 근적외선 및 중적외선 끝에서 전체 스펙트럼 분석을 가능하게하는 고급 초 스펙트럼 이미징 머신을 사용합니다. 이 고급 도구 (advanced tool) 에는 입자 오염으로 인한 결함을 포함하여 다양한 결함을 감지하는 기능이 포함되어 있습니다. Nano Spec 4150은 칩 패턴, 형상 및 재료 합성을 정확하게 분석하는 효과적인 도구입니다. 또한 결함 특성, 다양한 자동화 측정, 광범위한 스펙트럼 감도, 텍스처 및 색상 분석, 프랙탈 분석, 에지 감지, 이미지 스티칭, 히스토그램 분석 등 다양한 기능과 기능을 제공합니다. NANOMETRICS Nano Spec 4150의 고급 이미지 분석 기능은 자동 보고서 제작과 함께 각 관심 분야에 대한 자세한 진단 정보를 제공합니다. Nano Spec 4150은 매우 다양하며, 마스크 및 웨이퍼 검사를 위한 다양한 솔루션을 제공합니다. ISO, SEMI 등 다양한 업계 표준과 인증을 충족하도록 설계되었습니다. 또한, 사용자 친화적인 인터페이스를 통해 쉽고 직관적인 운영 (Operation) 을 보장하며, 전체 프로세스 및 결과에 대한 높은 수준의 자신감을 제공합니다. NANOMETRICS Nano Spec 4150은 다양한 산업 및 과학 응용프로그램에 이상적인 선택이며, 다양한 검사 프로세스에 대한 품질과 정확성을 제공합니다.