판매용 중고 NANOMETRICS NanoSpec 210 #9263933

NANOMETRICS Nano Spec 210은 최첨단 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 반도체 제작 시설에 사용하도록 설계되었습니다. NANOMETRICS NANO SPEC 210은 저항, 기판, 노출 된 다이, 저항 및 광학적으로 빛나는 이미지를 쉽게 검사 할 수 있습니다. 고해상도 광학 탐지기 (Optical Detector) 는 검사된 재료에 대한 매우 상세한 이미지를 생성하므로 정확한 식별 및 분석이 가능합니다. Nano Spec 210은 자동 고압 광원과 고해상도 CCD 광도 검출기를 사용하여 광학적으로 빛나는 이미지의 뛰어난 이미징을 제공합니다. 통합 패턴 및 다이 패턴 인식 알고리즘은 자세한 분석을 위해 웨이퍼에서 사소한 결함을 신속하게 감지합니다. NANO SPEC 210에는 모듈식 디자인이 포함되어 있으므로 다양한 하드웨어 구성 요소 (예: 카메라, 목표, 조명 시스템) 를 쉽게 설치 및 제거할 수 있습니다. 또한, 이 모듈성은 확장성을 향상시켜 보다 까다로운 애플리케이션에 맞게 시스템을 업그레이드하거나 업그레이드할 수 있게 해 줍니다. 이 장치의 고급 광학 및 지능형 알고리즘을 사용하면 공중 이미지 검사, 표면 검사, 모서리 검사, 결함 감지, 크기, 모양 분석 등 다양한 웨이퍼 검사 기능을 사용할 수 있습니다. 또한 NANOMETRICS Nano Spec 210에는 종합적인 결함 목록 (fault list) 이 포함되어 있어 사용자가 웨이퍼의 결함을 정확하게 일치시키고 진단할 수 있습니다. 또한 NANOMETRICS NANO SPEC 210은 기능이 풍부한 사용자 인터페이스를 통해 전체 시스템을 빠르고 효율적으로 제어할 수 있습니다. 직관적인 사용자 인터페이스는 다양한 언어를 지원하며, 단일 이미지 처리, 배치 처리, 시간 경과 (time-lapse) 비디오 캡처 등 다양한 직관적인 제어 옵션을 제공합니다. 또한 Nano Spec 210은 다양한 표준 USB 장치 (예: 디지털 비디오 카메라 또는 웹캠) 에 대한 연결과 호환성을 제공하여 이미지 또는 비디오를 캡처합니다. 또한 강력한 데이터 관리 기능을 통해 최대 500 개의 이미지 세트와 비디오 세트를 저장하여 상세한 분석 및 통계 평가를 받을 수 있습니다 (영문). 최신 이미징 기술을 활용한 NANO SPEC 210 은 제품을 정확하고 정확하게 제조하고 빠른 디바이스 디버깅 (debugging) 과 최적화 (optimization) 를 용이하게 하는 데 이상적입니다. 리서치 앤 디바이스 엔지니어링 (Research and Device Engineering) 에서 고급 회로 제작 (Advanced Circuit Fabrication) 에 이르기까지 모든 반도체 애플리케이션에 적합합니다.