판매용 중고 NANOMETRICS NanoSpec 210 #9105587

NANOMETRICS Nano Spec 210은 반도체 제조에 사용하도록 설계된 혁신적인 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 툴은 제품을 빠르고, 효율적이며, 정확하게 테스트하고 검사할 수 있도록 설계된 다양한 기능을 제공합니다. 이 시스템은 결함의 비접촉 (non-contact) 측정이 가능하며, 다양한 크기의 결함의 고해상도 이미지를 제공합니다. NANOMETRICS NANO SPEC 210에는 패턴 트래버스를 통해 피쳐 크기, 위치 정확도, 선 모서리 거칠기 등 다양한 매개변수를 정확하게 측정할 수 있는 고밀도 XYZ 단계를 포함한 최신 기술이 장착되어 있습니다. 또한, 이 장치에는 다크필드 차등 이미징을 갖춘 독특한 이미징 머신 인 HiScan ™ (HiScan ™) 이 포함되어 있어 매우 작은 결함을 감지 할 수 있습니다. 이 도구에는 또한 통합 레이저 소스 및 RSTM ™ 이미징 (RSTM ™ Imaging) 이 포함되어 있어 입자의 결함 인식, 필드에 포함 된 입자 및 다른 시스템이 놓칠 수있는 서브 미크론 결함을 개선 할 수 있습니다. 또한 Nano Spec 210에는 테스트가 시작되기 전에 완벽하게 정렬되는 ALIGN ™ (소프트웨어 기반 정렬 자산) 이 있습니다. 또한, 이 모델에는 사전 프로그래밍 된 이미징 및 측정 설정 라이브러리 (Library of pre- programmed imaging and measurement settings) 가 장착되어 있어 다양한 실험과 테스트를 쉽게 구성할 수 있습니다. NANO SPEC 210은 또한 온보드 프로세싱을 제공합니다. 즉, 추가 하드웨어 없이도 결과를 시작, 보기, 저장 및 분석할 수 있습니다. 이 장비는 실시간으로 결과를 표시할 수 있으며, 제조 과정에서 처리 시간 (turnaround time) 이 빨라집니다. 마지막으로, NANOMETRICS Nano Spec 210은 다양한 시스템 기능을 쉽게 제어하기 위해 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 제공합니다. 이 사용자 인터페이스에는 개별 사용자 기본 설정에 맞게 설정을 사용자 정의하는 옵션도 포함되어 있습니다. 전체적으로 NANOMETRICS NANO SPEC 210은 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장치 (Wafer Inspection Unit) 로, 최고 품질의 반도체 컴포넌트가 생산되도록 도와줍니다. 이 기계에는 HiScan ™, ALIGN ™, RSTM ™ 등의 다양한 기능이 있어 안정적이고 정확한 테스트 및 분석 장치가 됩니다.