판매용 중고 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT CALIPER Q300 #9389798

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT CALIPER Q300은 와퍼 기판에서 광학 결함의 고해상도 측정을 수행하도록 설계된 최첨단 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 최대 0.2 미크론 (0.2 미크론) 의 정밀도 및 정확도로 측정을 제공 할 수 있으므로 고급 반도체 소자 제조에서 서브 미크론 (sub-micron) 요구 사항에 적합합니다. 이 장치는 최대 12MP 해상도의 고속, 고해상도 카메라 머신 (camera machine) 을 사용하여 웨이퍼 이미지를 정확하게 캡처하고 고해상도 파형 분석을 캡처할 수 있습니다. 이 도구는 또한 오류, 입자 오염, IC 향상 (patterning error, particle contamination, IC enhancement) 등의 결함을 시각화 및 식별할 수 있도록 고급 소프트웨어로 설계되었습니다. 직관적인 교정 도구와 사용자 친화적 사용자 인터페이스 (User-Friendly User Interface) 를 통해 사용 및 운영도 쉽게 수행할 수 있습니다. 이 자산에는 광시야각 (full-of-view) 검사 모델이 완전하게 자동화된 정교한 광학 측정 플랫폼과 광학 광학 장치 (field-of-view scanning optics) 가 포함되어 있어 실험실과 프로덕션 환경 모두에서 처리량이 증가합니다. 이 검사 시스템은 또한 자동 환경 및 음영 보정을 통해 온도 안정적인 작동을 제공합니다. 이 장치에는 넓은 광시야각 이미징 플랫폼과 고효율 인쇄물/흐림 효과 (Imprint/Blur Correction) 가 포함되어 있어 정확성과 반복성을 향상시킵니다. 이 시스템의 다른 기능 (예: edging module) 을 통해 사용자는 패턴 내부의 기능 위치를 확인할 수 있습니다. 진공 척 (vacuum chuck) 과 탈착식 척 (removable chuck) 을 사용하여 최대 400 미크론을 측정 할 수 있습니다. 비 자기 웨이퍼에서 고정밀 측정을 허용하는 자기 스캔. 또한, 이 툴은 전용 소프트웨어와 통합되어 다양한 분석 툴 (analysis tools) 과 일부 데이터 관리 (data management) 기능을 제공합니다. 여기에는 검사된 이미지와 인라인 이미지에 대한 수동 (manual) 및 자동 결함 분석 기능, 자동 할당 (automated allignment) 및 라인 추적 기능이 포함됩니다. 또한 치수 측정을위한 라이브 3D 뷰 및 통합 게노메트리 함수를 제공합니다. ACCENT CALIPER Q300은 3D 집적 회로 (3DIC) 제조, MEMS, 의료 기기, IoT 등 다양한 분야의 고급 반도체 장치 제조업체에 적합합니다. 이 자산은 견고한 설계와 가변 측정 속도를 바탕으로 반도체 (반도체) 소자 제조업체의 요구 사항에 적합한 탁월한 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다 (영문).