판매용 중고 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT CALIPER Q300 #9298694

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT CALIPER Q300은 웨이퍼 및 서브 미크론 레벨 검사 작업을 위해 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. Q300 은 고급 광학 기술 (Advanced Optics Technology) 과 제조 과정에서 반도체 부품을 검사하는 데 최적화된 플랫폼 (Software and Electronics) 을 제공합니다. Q300 시스템은 다양한 유형의 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 를 검사하는 고급 광학 기능을 사용하며, 전체 칩 마스크 레이어 (full chip mask layer) 와 절반 마스크 레이어 (half-mask layer) 에서 그 사이의 다른 여러 유형과 크기에 이르기까지 다양합니다. 임베디드 옵틱 유닛에는 강력한 레이저 다이오드 (laser diode) 와 표면 검사를 위한 광학 줌 (optical zoom) 과 마스크와 웨이퍼의 다양한 표면 기능을 검사하기위한 서브 미크론 현미경이 포함됩니다. 이 기계는 또한 전체 칩 분석을위한 자동 기능을 제공하고 검사 시간을 줄입니다. 다중 계층 도량형 (Multilayer Metrology) 기능은 공구에 내장되어 있으며, 단일 측정으로 레이어 높이 (Layer height) 및 서피스 거칠기 (surface roughness) 를 측정할 수 있습니다. 자산은 3D 스캐닝 현미경과 같은 고급 도구를 사용하여 다양한 true-to-life 시나리오에서 lithography 마스크 작동을 분석 할 수 있습니다. Q300 자동 제어를 통해 웨이퍼 및 마스크 검사 처리량을 높일 수 있습니다. 고속 스캐닝 (High-Speed Scanning) 및 스캐닝 매개변수 (Scanning Parameter) 는 사용자정의 설정에 맞게 조정할 수 있으며, 동력 단계 제어는 검사된 부품의 정확한 정렬 및 샘플링을 허용합니다. 또한, 사용자에게 친숙한 인터페이스를 통해 모델을 쉽게 프로그래밍할 수 있습니다. ACCENT CALIPER Q300은 반도체 및 칩 제조 과정에서 사용할 수 있는 안정적이고, 효율적이며, 정확한 검사 기능을 제공합니다. 고급 옵틱 (optic) 과 자동화 (automation) 컨트롤은 정확하고 품질이 좋은 결과를 보장하는 반면, 사용자 친화적 인 인터페이스는 프로그래밍을 단순화하고 검사 프로세스를 더욱 효과적으로 제어할 수 있습니다. 이 장비는 전용의 강력한 레이저 다이오드와 광학 줌 (optical zoom) 을 활용하여 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 표면을 검사하고 단일 측정으로 다중 계층 도량형을 측정 할 수 있습니다. 이 모든 기능을 결합한 Q300은 품질 마스크 (Quality Mask) 및 웨이퍼 검사 (Wafer Inspection) 에 이상적인 솔루션입니다.