판매용 중고 NANOMETRICS AFT 4000 #44869

ID: 44869
Measurement system Standard Film Types Measured Single Layer Films: Visible 500-50,000A; UV 25-500A Double Layer Films: Visible Top Layer 100-30,000A; Bottom Layer 100-10,000A Single Layer Thick Films: Visible 4-75 microns Reflectance: Visible 400-850nm Oxide on Poly: UV 150-10,000A Oxide on Metal: Visable 3,000-20,000A; UV 500-5,000 A.
NANOMETRICS AFT 4000은 PCB (Printed Circuit Boards) 와 같은 불투명 기판의 모양과 치수에 대한 신뢰할 수 있고 정확하며 반복 가능한 측정을 제공하기 위해 설계된 Mask and Wafer Inspection Equipment입니다. 이 시스템에는 완전 자동화 된 광학 및 기계 스캐닝 단계, 고급 원격 중심 광학 장치 (Telecentric Optical Unit), 광범위한 측정 및 분석 소프트웨어 도구가 포함됩니다. AFT 4000은 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 사용하여 밝은 이미지와 어두운 필드 이미지를 모두 활용하여 15nm (small) 및 75nm (resolution) 의 기능을 측정할 수 있습니다. 스캔 단계 (scan stage) 에는 최적화된 옵틱이 장착되어 있어 다양한 기능 크기와 모양을 효율적으로 이미징, 반복해서 측정할 수 있습니다. 옵션 로봇 암은 수동 및 자동 샘플 조작을 모두 허용합니다. NANOMETRICS AFT 4000은 산란 측량 (scatterometry) 및 형광 이미징 (fluorescence imaging) 과 같은 다양한 고급 기술을 사용하여 대상 재료를 자세히 표현합니다. AFT 4000은 또한 피쳐 모서리, 사이드 월, 스텝 높이, 프로파일 및 평면을 측정 할 수 있습니다. 또한, 기계는 자동 정밀 측정을 위해 신호 처리 시스템과 인터페이스 할 수 있습니다. NANOMETRICS AFT 4000 내에 통합된 데이터 분석 소프트웨어 패키지에는 3D 기하학적 모델을 생성하고 CAD 또는 측정 시스템용 데이터를 내보내는 기능이 포함됩니다. 또한 커스터마이징 가능한 보고서 (customizable reports) 를 제공하며, 테이블 및 이미지를 사용하여 결과를 명확하게 표시하고, 여러 스캔의 데이터를 비교할 수 있습니다. 이 도구의 전반적인 설계는 오류를 최소화하고 반복 가능한 결과를 생성하는 데 중점을 둡니다. AFT 4000 (AFT 4000) 은 실험실, 엔지니어, 과학 연구원에게 이상적인 선택으로, 정확한 물리적 측정과 강력한 데이터 분석을 제공합니다. 이 자산을 통해 운영자는 소중한 데이터 포인트 (data point) 를 신속하게 획득하고 다양한 기판에 걸쳐 다양한 정교한 이미지와 모델을 생성할 수 있습니다. 직관적인 사용자 인터페이스, 고급 측정 기능 및 탁월한 정확도를 갖춘 NANOMETRICS AFT 4000은 마스크 및 웨이퍼 기판을 상세하게 분석하는 데 적합한 선택입니다.
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