판매용 중고 NANOMETRICS 9010 #293590700

ID: 293590700
빈티지: 2006
Thickness measurement system 2006 vintage.
NANOMETRICS 9010 Mask & Wafer Inspection Equipment는 자동 인라인 광학 검사 시스템으로, 웨이퍼 패턴의 다양한 결함을 측정, 특성화 및 분류하는 기능을 제공합니다. 반도체 집적회로 제조 과정에서 다양한 인쇄, 결함, 마스크를 탐지, 분류하는 데 사용됩니다. 이 장치는 광학 이미징 (optical imaging) 의 원리를 기반으로하며 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 방법을 활용하여 높은 수준의 정확성과 반복성을 제공합니다. 이 기계는 여러 고성능 광학 시스템 (Optical System) 으로 구성되어 있어 웨이퍼 (Wafer) 와 마스크 (Mask) 이미지를 비파괴적인 방식으로 캡처하고 분석할 수 있습니다. 이미징을위한 고해상도 흑백 CCD 카메라와 검사 및 측정용 (내장) 소프트웨어가 함께 제공됩니다. 모든 구성 요소는 정밀도 (precision) 플랫폼에 통합되어 정확하고 반복 가능한 결과를 얻을 수 있습니다. 이 도구는 큰 마스크와 웨이퍼 (wafer) 를 측정하는 넓은 작업 영역을 특징으로하며, 최대 시야는 180mm x 180mm입니다. 이 자산은 10x/0.25NA, 40x/0.5NA 및 90x/1.1NA를 보유한 고성능 스테레오 현미경을 사용합니다. 9010 Mask & Wafer Inspection Model은 다양한 유형의 웨이퍼 패턴 및 마스크에 대한 고급 결과를 제공 할 수 있습니다. 실리콘, 폴리머, 유기 기질 등 다양한 물질의 결함을 감지하고 분류 할 수 있습니다. 이 장비에는 기본 제공되는 매개변수 라이브러리가 있으며 라인 너비, 피치, 모서리 등 다양한 레이아웃 (layout) 기능을 측정하도록 프로그래밍할 수 있습니다. 또한 중첩, 브리징, 스티칭과 같은 프로세스 관련 오류를 감지할 수 있습니다. 또한 와일드카드 클래스를 통해 검사 마스크 모서리, 하위 픽셀 스티칭 및 사후 스티칭 (post-stitching) 검사를 자동화할 수 있습니다. 이렇게 하면 "웨이퍼 '에 표시되는 마스크가 유효하며 오류가 없음을 알 수 있다. 검사 결과는 PDF, TIFF, CSV 등 다양한 형식으로 분석, 저장할 수 있습니다. 사용자 인터페이스는 간편하고 사용자 친화적이며, 손쉽게 데이터를 보고 분석할 수 있습니다. 또한 사용자는 시스템 설정 (System Settings) 을 사용자 정의하여 감지에 관심이 있는 결함 유형을 지정할 수 있습니다. 전반적으로 NANOMETRICS 9010 Mask & Wafer Inspection 장치는 다양한 웨이퍼 패턴과 마스크를 감지하고 분류하는 데 사용되는 다양하고 정확한 도구입니다. 단순한 사용자 인터페이스 (user interface) 와 고해상도 (high resolution) 이미지를 캡처하고 분석할 수 있는 기능을 갖춘 반도체 업계를 위한 귀중한 도구다.
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