판매용 중고 METRICON PC 2010 #9245359

METRICON PC 2010은 독일 회사 인 METRICON이 개발 한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 레티클, 웨이퍼 또는 기타 플랫 마스크의 고정밀 검사에 사용되도록 설계된 이 시스템은 오염, 핀홀, 공백, 얼룩, 파편 및 기타 불완전성과 같은 미세한 결함을 감지 할 수 있습니다. 이 장치에는 뛰어난 이미징 성능을 제공하기 위해 고해상도 (high resolution) 와 대비를 갖춘 고급 옵티컬 머신 (optical machine) 이 장착되어 있습니다. 이 도구에 사용되는 LED 광원은 매우 정확하고 균일하고 안정적인 조명을 제공합니다. 내장형 모니터는 사용하기 쉬운 그래픽 인터페이스를 제공하며, 멀티 리플렉션 (multi-reflection) 감지를 통해 높은 효율성과 생산성을 제공합니다. METRICON PC-2010은 데이터 분석을 위해 다양한 소프트웨어 프로그램과 호환됩니다. 이 프로그램은 먼지 및 먼지 입자, 긁힘, 오염, 핀홀, 공백, 얼룩, 플레이크 및 두께 또는 모양의 불규칙성을 포함한 다양한 결함 유형을 감지 할 수 있습니다. 에셋은 정렬 표시에서 잘못된 정렬을 확인할 수도 있습니다. PC 2010에는 다양한 전기, 기계, 동작 제어 기능이 장착되어 있어 고속, 정확한 스캐닝에 적합합니다. 이 모델은 운영자의 피로를 줄이고 효율성을 높이기 위해 설계되었습니다. 또한 결과를 처리 및 평가하기 위해 표준 신호 논리를 지원합니다. 이 장비는 반음계 좌표 값 (chromatic coordinate value), 스팟 미터 스캐닝 (spot meter scanning), 고급 패턴 인식 (advanced pattern recognition) 또는 로봇 공학에 사용할 특수 데이터 출력 (special data output) 과 같은 새로운 기능을 포함하도록 확장 될 수 있습니다. 또한 PC-2010은 수동 또는 자동 정렬 시스템과 함께 사용할 수 있습니다. 이 시스템은 과학 및 산업 과제 모두에 적합합니다. 마스크 (Mask) 의 광학 특성에 대한 정보와 반도체 소자 품질 (Device Quality) 또는 입자 오염 (Particle Contamination) 에 대한 결과를 제공할 수 있습니다. 또한 상세한 이미지 분석 가능성을 제공하며, 추가 단위 (unit) 설계의 기초로 사용될 수 있습니다.